专利名称：利用受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪的制作方法
技术领域：
本发明是一种通过测量全波光纤中受激布里渊光功率损耗来探测未知光谱的高精度光谱分析仪，具体是根据一种发生在全波光纤中的在波长连续扫描激光器(TLS)的输出光与来自外部设备的待测信号(SUT)光之间的受激布里渊效应，通过探测上述扫描激光器的输出光在与上述待测信号光相互作用中损耗的光功率来测得待测信号光的光谱，具体包括扫描激光器(I)，光学隔离器(2)，一定长度全波光纤(3),偏振控制器(4),光学环形器
(5)，光电探测器￠)，数据采集处理与控制系统(7)及恒温装置(8)。
背景技术：
美国专利US7405820B2说明了一种使用受激布里渊散射的光谱分析设备，其利用光纤中布里渊光放大效应并探测相互作用中待测信号的光功率的增益来对待测信号光进行光谱测量，与本专利有相似的技术背景。中国专利CN101246056A中也提到了利用布里渊散射的频谱测定，但是其技术领域属于分布式光纤温度与应力传感器，而且技术背景及发明内容都与此专利完全不同。西班牙学者(J. M. Subias Domingo, J. Pelayo, F. Villuendas,C. D. Heras, and E. Pellejer)在 IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS,2005,17(4)855-857文章中提出了基于光纤受激布里渊散射的高精度光谱仪，其所用光源为外腔调谐式波长扫描激光器，也是利用光纤中布里渊光放大效应并探测相互作用中待测信号的光功率的增益来对信号光进行光谱测量。本发明中最主要的创新步骤有(I)利用光纤中受激布里渊散射的光损耗效应而不是之前报道的光增益效应来提高光谱测量的稳定性并降低系统对光电探测器性能的要求；(2)使用全波(All wave)光纤作为发生受激布里渊散射相互作用的介质，其目的在于压缩受激布里渊散射峰的线宽以提高光谱分辨率；(3)使用恒温装置来消除光纤中受激布里渊散射由于温度改变而引起的频移量漂移达到提高光谱测量精度的目的；(4)使用温度及驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器取代昂贵的外腔调谐式激光器作为波长扫描激光光源。与当前的基于光栅原理的光谱仪相比，该光谱分析仪拥有更高的兆赫兹量级的光谱分辨率及更大的动态功率测量范围。
发明内容
本发明属于高精度光谱测量技术领域，提供了一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，实现了超高精度频谱测量与分析，并有很大的动态测量范围。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于由扫描激光器(I)，光学隔离器(2),—定长度全波光纤(3),偏振控制器 (4)，光学环形器(5)，光电探测器￠)，数据采集处理与控制系统(7)及恒温装置(8)组成。光纤中的受激布里渊散射的原理从一段光纤的两个端口分别入射两束光，当两束光在此段光纤中相向传输时，如果此时两束光的频率差与此种光纤的布里渊散射频移(约IlGHz)相近或相等，那么在这两束光之间将发生能量转移现象一两束光中频率高的部分入射光被受激声波散射而转变为另一束频率低的光，并同时满足能量与动量守恒定律，其转移的光功率与它们发生相互作用时两束光的强度成正比关系，此现象称为光纤受激布里渊(Brillouin)散射效应。其中频率高的入射光称为泵浦光，频率低的入射光称为斯托克斯光，受激布里渊散射的微观解释为泵浦光的光子(其频率为Vtl)与斯托克斯光的光子(其频率为VtT Δ V，其中Λ V约为IlGHz)在光纤中发生受激布里渊散射效应时，一个泵浦光子湮灭，同时产生一个反向运动的斯托克斯光子和一个同向运动的声学声子(其频率为Λν)。受激布里渊散射效应典型现象为泵浦光的光功率减小和斯托克斯光的光功率增加，当通过测量泵浦光的光功率减小来探知受激布里渊散射效应时，称之为受激布里渊光损耗效应；而当通过测量斯托克斯光的光功率增加来探知受激布里渊散射效应时，称之为受激布里渊光增益效应，它们是受激布里渊散射这个物理现象的两个观察角度，并在具体实现方式上存在差异，比如光电探测器在光纤链路中的位置以及后期数据处理的方法。本发明利用的是光纤中的受激布里渊光损耗效应，通过直接探测泵浦光(在本发明中起泵浦光作用的是扫描激光器(I)的输出光)与来自外部设备的待测信号光(9)相互·作用中所损失的光功率值，以此来得到待测信号光(9)中此时发生受激布里渊散射效应的频谱组份的光功率值，使用波长扫描激光器来线性连续改变泵浦光的频率％就可以得到待测信号光在扫描频谱范围内的不同频率值处的光功率数值。与前面提到的利用受激布里渊光增益效应的技术相比，基于受激布里渊光损耗效应的探测技术有如下的优势布里渊光增益技术探测的是待测信号光的功率变化，所以在光扫描的过程中，如果此时信号光的功率由于某种人为、环境或其固有的原因使得其功率突然增加，这种功率变化也会被当作由于受激布里渊增益效应产生的结果，就会产生错误的光谱测量结果；而利用布里渊光损耗技术探测的是扫描激光器的功率减少，扫描激光器的出射光功率通�：芪榷ǎ词蛊涫涑龉β视形⑿∑鸱彩强稍げ獠⑼ü笃谑荽砝葱Ｕ庑藕殴獾男阅苡胛榷ㄐ允俏薹ㄔげ獾模虼瞬捎檬芗げ祭镌ü馑鸷男вΦ奶讲饧际踉谑导什饬恐谢岣榷ú⒓跎傥蟛馇榭龅姆⑸�。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于使用数据采集处理与控制系统(7)通过精确控制扫描激光器(TLS) (I)的温度及驱动电流，实现线性连续波长输出且波长组份的输出功率稳定，以此输出光作为受激布里渊散射的泵浦光。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于扫描激光器(TLS) (I)为温度和驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器，此激光器输出波长随着驱动电流和温度的改变而快速变化，并且其输出功率在波长改变时保持恒定。上述扫描激光器与美国专利以及西班牙学者所使用的外腔调谐扫描激光器相比有很大改进首先，温度调谐方式使用的是TEC热电制冷器(又名半导体制冷器)不存在任何运动部件或者流动制冷剂，抗振动性强并坚固耐用，通过改变直流电流的极性来决定实现制冷或加热，简单方便；其次，驱动电流调谐也不需要任何活动部件，同样具有出色的抗振动干扰的能力；另外驱动电流调节方式可以实现快速准确的调谐。相对来说，温度调谐速度较慢但波长调谐范围大，而驱动电流调谐速度较快但波长调谐范围窄。综合以上两种调谐方式可兼顾调谐速度和调谐范围，使得该扫描激光器具有低成本，高可靠性和灵活方便的特点。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于通过光学隔离器(2)将扫描激光器的输出光输入到一定长度全波光纤(3)中，并阻止与此光传输方向相反的光进入扫描激光器(I)中而对其形成干扰。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用一定长度全波光纤(3)作为受激布里渊散射效应相互作用的发生介质。上述全波光纤(3)主要有两个作用其一是作为发生受激布里渊散射效应的相互作用介质，提供扫描激光器(I)的输出光与待测信号光(9)之间进行能量转移的媒介；其二是所使用的全波光纤拥有更窄的受激布里渊散射峰，起到提高光谱分辨率的作用。例如，在SMF-28单模光纤中，受激布里渊散射峰的线宽为30MHz左右，但是在上述全波光纤中此线 宽只有20MHz，使用特定方法还可以进一步压缩受激布里渊散射峰的线宽达到3MHz左右，这将更大的提高光谱测量分析设备的分辨率。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用恒温装置(8)为全波光纤(3)提供恒温环境保护以消除受激布里渊散射的频移量(即上述约为IlGHz的Λ V)随外界环境温度改变而产生的频率漂移来提高光谱测量的精度。上述恒温装置(8)中的温度一般设置为与外界环境接近且保持恒定。在正常的环境温度中，光纤温度每变化I摄氏度受激布里渊散射频移量将变化大约I. 3MHz，相当于在1550纳米波长附近时，波长漂移量为10飞米(10父10_15米)。而此波长漂移量与光谱测量与分析设备在上述波长处的分辨率相当，所以恒温装置(8)是必须的，否则光谱测量与分析设备的测量精度与一致性将严重下降。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用偏振控制器(4)来控制进入发生相互作用的一定长度全波光纤(3)中的相互作用光的偏振状态，以增强受激布里渊散射效应。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用光学环形器(5)将待测信号(SUT)光(9)输入到发生相互作用的一定长度全波光纤(3)中，并阻止与此光传输方向相反的光进入到待测信号(SUT)光源而形成干扰，同时将沿相反方向传输的扫描激光器的输出光输出到光电探测器(6)中。所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于采用数据采集处理与控制系统(7)来统一调度管理整个设备进行扫描激光器(I)的输出波长扫描，恒温装置(8)的温度保持，以及从光电探测器(6)中采集信号并进行滤波放大以及傅里叶变换和精确提取TLS出射光的功率损耗量的运算处理操作，并在上述调度管理与运算操作之后绘制出来自外部设备的待测信号(SUT)光(9)的光谱图进而将最终处理结果按照用户操作及设备当前设置输出显示，使用户得以灵活方便的观察。在上述数据采集处理与控制系统(7)中为了绘制出待测信号(9)光的光谱图，需要确定待测信号光(9)在扫描激光器(I)输出波长扫描所探测的波长范围内所有波长(或者频率)组份与在数据采集处理与控制系统(7)中所得到的上述波长组份的光功率值之间的对应关系，进而需要精确控制扫描激光器的输出波长值与上述数据采集处理与控制系统
(7)中数据采集部分所采集信号之间的严格对应关系，由此在上述系统(7)中包含了一个高精度的定时器来产生同步扫描激光器(I)和上述系统(7)中数据采集部分的触发脉冲信号，并使用此脉冲信号的上升沿作为上述同步操作的时间基准。本发明的优点本发明利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备的光谱分辨精度较高，可以达到O. Ipm数量级以上，达到超高精度光谱分辨能力的同时具有很高的精度及稳定性，且由于特殊设计的光电探测系统及方法使得待测信号(SUT)光的功率动态变化范围超过了 70dB。
图I是一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备的示意图。此图中虚线框内的部分为光谱测量与分析设备，两个箭头分别代表相应部分 光路中光的传输方向。
具体实施例方式如图I所示，本发明为利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，包括扫描激光器(I)，光学隔离器(2),—定长度全波光纤(3),偏振控制器
(4)，光学环形器(5)，光电探测器(6)，数据采集处理与控制系统(7)及恒温装置(8)。数据采集处理与控制系统(7)通过调谐扫描激光器(I)的温度和驱动电流值来实现在一个设定的波长范围内以一定的扫描速度进行连续波长扫描输出，扫描激光器(I)在扫描过程期间，其输出功率恒定不变，且输出光经过光学隔离器(2)进入偏振控制器(4)，经过偏振态调节后输入到作为发生相互作用介质的一定长度全波光纤(3)中，与经过光学环形器(5)进入全波光纤(3)的来自于外部设备的待测信号(SUT)光(9)发生受激布里渊散射，使用光电探测器(6)来探测扫描激光器(I)的光功率损耗量，并将探测信号实时传输到数据采集与控制系统(7)中，同时严格控制扫描激光器(I)及光电探测器(6)之间波长扫描及光功率探测的同步关系，以此来确定发生受激布里渊散射的上述的待测信号光(9)的频率(也可以是波长)及相应的功率数值，并得到待测信号光(9)的完整频谱图像。上述波长范围由设备的初始默认值以及用户设定值所共同决定，综合光纤自身特性及光谱分析仪的精度等因素来考虑，波长范围一般设置在40至O. I纳米区间内；而且上述扫描速度也是用户可选的，并被分成几个不同的扫描速度档，例如100内米每秒，10纳米每秒，O. 5纳米每秒等几个分档速度。上述波长扫描及光功率探测之间的同步关系通过使用一个32位精度的定时器作为触发信号源来产生触发脉冲信号，且此触发脉冲信号的上升沿作为实现上述同步关系的同步时间基准。
权利要求
1.一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，属于高精度光谱测量技术领域，由扫描激光器(I)，光学隔离器(2)，一定长度全波光纤(3)，偏振控制器(4)，光学环形器(5)，光电探测器￠)，数据采集处理与控制系统(7)及恒温装置(8)组成。
2.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于使用数据采集处理与控制系统(7)通过精确控制扫描激光器(TLS) (I)的温度及驱动电流，实现线性连续波长输出且波长组份的输出功率稳定，以此输出光作为受激布里渊散射的泵浦光。
3.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于扫描激光器(TLS) (I)为温度和驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器，此激光器输出波长随着驱动电流和温度的改变而快速变化，并且其输出功率在波长改变时保持恒定。
4.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于通过光学隔离器(2)将扫描激光器的输出光输入到一定长度全波光纤(3)中，并阻止与此光传输方向相反的光进入扫描激光器(I)中而对其形成干扰。
5.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用一定长度全波光纤(3)作为受激布里渊散射效应相互作用的发生介质，所使用的全波光纤(3)为消除了在1385nm波长附近由于OH根离子存在所产生的损耗峰的特种光纤，比如OFS公司的AllWave零水峰(ZWP)光纤及其改进衍生系列光纤。
6.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用恒温装置(8)为全波光纤(3)提供恒温环境保护以消除受激布里渊散射的频移量(即上述约为IlGHz的Av)随外界环境温度改变而产生的频率漂移来提高光谱测量的精度。
7.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用偏振控制器(4)来控制进入发生相互作用的一定长度全波光纤(3)中的相互作用光的偏振状态，以增强受激布里渊散射效应。
8.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于利用光学环形器(5)将待测信号(SUT)光(9)输入到发生相互作用的一定长度全波光纤(3)中，并阻止与此光传输方向相反的光进入到待测信号(SUT)光源而形成干扰，同时将沿相反方向传输的扫描激光器的输出光输出到光电探测器(6)中。
9.根据权利要求I所述的一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱测量与分析设备，其特征在于采用数据采集处理与控制系统(7)来统一调度管理整个设备进行扫描激光器(I)的输出波长扫描，恒温装置(8)的温度保持，以及从光电探测器(6)中采集信号并进行滤波放大以及傅里叶变换和精确提取TLS出射光的功率损耗量的运算处理操作，并在上述调度管理与运算操作之后绘制出来自外部设备的待测信号(SUT)光(9)的光谱图进而将最终处理结果按照用户操作及设备当前设置输出显示，使用户得以灵活方便的观察 。
全文摘要
本发明公开了一种利用全波光纤中受激布里渊光损耗机制的高精度光谱分析仪，利用全波光纤固有的窄受激布里渊散射峰线宽的特性，基于光纤中受激布里渊散射光损耗效应，探测扫描激光器(TLS)的输出光在与待测信号(SUT)光在全波光纤中发生受激布里渊散射相互作用时光功率损耗来进行光谱测量与分析，并由此得到待测信号(SUT)光的超高精度频谱图。在光谱分析过程中，使用恒温装置来消除光纤中受激布里渊散射由于温度改变而引起的频移量(约11GHz)漂移，由此进一步提高光谱分析仪的精度及可靠性，同时创新性地使用温度及驱动电流可调谐的分布反馈式半导体激光器作为波长扫描激光光源，使得光谱分析仪具有低成本，高可靠性和灵活方便的特点。
文档编号G01J3/44GK102706451SQ20121023388
公开日2012年10月3日 申请日期2012年7月2日 优先权日2012年7月2日
发明者叶兰芝, 张彩霞, 张震伟, 李裔 申请人:中国计量学院
专业数控铣床产品供应商
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