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专利名称：模拟电路测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电路领域，具体而言，涉及一种模拟电路测试装置。
背景技术：
随着模拟电路的广泛使用，往往需要对模拟电路的功能进行测试，也即，测试模拟电路的功能正确性，但是，在现有技术中，在对模拟电路的进行测试时，需要连接外部测试设备(例如高速测试仪器)或者对应的接收芯片(如高速串行数据接收器或模数转化器)才能够进行测试，从而导致现有的模拟电路测试方法成本高，测试时间长。针对相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容
本发明的主要目的在于提供一种模拟电路测试装置，以解决相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备设备的才能够进行测试的问题。为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种模拟电路测试装置，包括产生电路，用于提供测试向量；第一获取电路，连接于被测电路的输入端和产生电路之间，用于获取测试向量以及将测试向量施加至被测电路；第二获取电路，连接于被测电路的输出端，用于获取被测电路的输出信息；以及分析电路，与第二获取电路相连接，用于根据被测电路的输出信息判断被测电路的功能正确性。进一步地，产生电路包括特征产生器，用于产生特征序列；以及模拟电路测试向量产生器，连接于特征产生器，用于根据特征序列得到测试向量。进一步地，产生电路还包括随机序列产生器，连接于模拟电路测试向量产生器，用于产生随机测试向量序列，其中，模拟电路测试向量产生器用于将特征序列的信息加入随机测试向量序列，以产生含有特征信息的测试向量。进一步地，第一获取电路为模拟电路向量获取电路，模拟电路向量获取电路用于从数字模拟接口获取测试向量。进一步地,第二获取电路为解串行化电路,其中，解串行化电路用于获取被测电路的输出信息，以及将输出信息中的串行数据转换为并行数据。进一步地，第二获取电路为模数转换电路，其中，模数转换电路用于获取被测电路的输出信息，以及将输出信息中的模拟信号转换为数字信号。 进一步地，包括数字电路，其中，数字电路包括产生电路和分析电路。进一步地，模拟电路测试装置还包括测试向量压缩电路，用于抽取解串行化电路或模数转换电路恢复的数据流中的特征信息，并加以压缩，回传给数字电路。进一步地，分析电路为测试向量特征分析电路，测试向量特征分析电路用于分析经过测试向量压缩电路压缩过的特征信息，并检测特征信息的正确性。进一步地,被测电路为串行器转换电路或数模转换电路。
通过采用本发明所提供的模拟电路测试装置，由于通过产生电路提供测试向量，连接于被测电路的输入端和产生电路之间的第一获取电路获取测试向量以及将测试向量施加至被测电路，连接于被测电路的输出端的第二获取电路获取被测电路的输出信息；以及通过与第二获取电路相连接的分析电路根据被测电路的输出信息判断被测电路的功能正确性，因而解决了相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，进而达到了使得模拟电路测试装置无需连接外部设备也能够进行测试的效果。


构成本申请的一部分的附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中图I是根据本发明实施例的模拟电路测试装置的示意图；以及图2是根据本发明优选实施例的模拟电路测试装置的示意图。
具体实施例方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。本发明实施例提供了一种模拟电路测试装置。图I是根据本发明实施例模拟电路测试装置的示意图，如图I所示，该模拟电路测试装置包括产生电路、第一获取电路、第二获取电路和分析电路。产生电路，用于提供测试向量。该测试向量用于提供给模拟电路以进行测试，其中，该测试向量既可以是基于特征序列得到的测试向量，也可以是基于随机测试向量序列和特征序列二者所得到的测试向量。第一获取电路，连接于被测电路的输入端和所述产生电路之间，用于获取所述测试向量以及将所述测试向量施加至所述被测电路。该第一获取电路可以作为模拟电路的一部分，用于在获取到测试向量之后，将获取到的测试向量施加至模拟电路中的被测电路部分。第二获取电路，连接于所述被测电路的输出端，用于获取所述被测电路的输出信息。该第二获取电路也可以作为模拟电路的一部分，用于从模拟电路中的被测电路部分的输出端获取到被测电路的输出信息。分析电路，与所述第二获取电路相连接，用于根据所述被测电路的输出信息判断所述被测电路的功能正确性。该分析电路可以作为数字电路的一部分，用于基于来自模拟电路的第二获取电路反馈的信息进行分析，以判断所述被测电路的功能正确性。在该实施例所提供的模拟电路测试装置中，由于第一获取电路获取到了进行测试的测试向量并将测试向量施加至被测电路，第二获取电路获取被测电路输出的信息，以及分析电路根据第二获取电路反馈的信息对被测电路的功能正确性进行分析，因而解决了相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，进而达到了使得模拟电路测试装置无需连接外部设备也能够进行测试的效果。作为所述产生电路的一种可选实施方式，上述的产生电路可以包括特征产生器和模拟电路测试向量产生器。
特征产生器用于产生特征序列。模拟电路测试向量产生器，连接于特征产生器，用于根据所述特征序列得到所述测试向量。通过该实施方式的产生电路，由于根据特征产生器产生的特征序列得到所述测试向量，因而，简化了测试装置的结构。为了提高测试的覆盖率，优选地，上述的产生电路还包括随机序列产生器。随机序列产生器，连接于所述模拟电路测试向量产生器，用于产生随机测试向量序列，此时，所述模拟电路测试向量产生器用于将所述特征序列的信息加入所述随机测试向量序列，以产生含有特征信息的测试向量。上述的第一获取电路可以采用至少两种方式来实现，例如方式一，第一获取电路可以为模拟电路向量获取电路，该模拟电路向量获取电路用于从数字模拟接口获取所述测试向量。方式二，第二获取电路也可以为解串行化电路，其中，所述解串行化电路用于获取所述被测电路的输出信息，以及将所述输出信息中的串行数据转换为并行数据。上述的第二获取电路为模数转换电路，其中，所述模数转换电路用于获取所述被测电路的输出信息，以及将所述输出信息中的模拟信号转换为数字信号。本发明实施例的模拟电路测试装置可以包括数字电路和模拟电路两部分，其中，数字电路可以包括上述的产生电路和所述分析电路。模拟电路可以包括上述的模拟电路向量获取电路和解串行化电路。为了简化模拟电路的实现难度，优选地，模拟电路测试装置还包括测试向量压缩电路。测试向量压缩电路用于抽取解串行化电路或模数转换电路恢复的数据流中的特征信息，并加以压缩，回传给数字电路。上述的分析电路可以为测试向量特征分析电路，该测试向量特征分析电路用于分析经过所述测试向量压缩电路压缩过的特征信息，并检测所述特征信息的正确性。上述的被测电路为串行器转换电路或数模转换电路。即，本发明实施例所提供的测试装置即可以用于对串行器转换电路进行测试，也可以用于对数模转换电路进行测试。在具体实现当中，测试向量特征分析电路也可以和测试向量压缩电路进行合并。图2是根据本发明优选实施例的模拟电路测试装置的示意图。如图2所示，该模拟电路测试装置包括数字电路10和模拟电路20。数字电路10包括随机序列产生器11、特征产生器12、模拟电路测试向量产生器13和测试向量特征分析电路15。随机序列产生器11用于产生随机测试向量序列。特征产生器12用于产生特征序列。
模拟电路测试向量产生器13用于将特征序列的信息加入随机测试向量序列，并产生新的含有特征信息的测试向量序列。模拟电路20包括模拟电路向量获取电路21、串行器转换电路或数模转换电路22、解串行化电路或模数转换电路23和测试向量压缩电路24。模拟电路向量获取电路21用于从数字模拟接口获取测试向量序列。
串行器转换电路或数模转换电路22用于将并行数据转换为串行数据或者将并行数据转换为模拟信号。解串行化电路或模数转换电路23用于将串行数据转换为并行数据或将模拟信号转换为数字信号。
测试向量压缩电路24用于抽取解串行化电路或模数转换电路23恢复的数据流中的特征信息，并加以压缩，回传给数字电路10。测试向量特征分析电路15用于分析经过测试向量压缩电路24压缩过的特征信息，并检测特征信息率的正确性。通过上述的测试电路，能够测试串行器转换电路或数模转换电路22功能正确性。以下对上述测试电路的工作原理进一步阐述如下模拟电路测试向量产生器13将随机序列产生器11和特征产生器12产生的数据合成为具有特征信息的测试激励。测试激励被施加于串行器转换电路或数模转换电路22。解串行化电路或模数转换电路23和测试向量压缩电路24获取22的输出，将压缩过信息回传给测试向量特征分析电路15。测试向量特征分析电路15通过分析特征信息判定解串行化电路或模数转换电路23的功能正确性。通过本发明实施例所提供的测试电路，能够在不需要外部测试设备的条件下快速测试模拟电路的功能正确性，测试覆盖率高，测试准确性高，测试条件与正常工作条件相似度高。本发明实施例所提供的测试电路也可以用于高速模拟电路测试，测试覆盖率高，测试条件与真实工作条件一致，测试高效，且测试时间短。以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种模拟电路测试装置，其特征在于，包括 产生电路，用于提供测试向量； 第一获取电路，连接于被测电路的输入端和所述产生电路之间，用于获取所述测试向量以及将所述测试向量施加至所述被测电路； 第二获取电路，连接于所述被测电路的输出端，用于获取所述被测电路的输出信息；以及 分析电路，与所述第二获取电路相连接，用于根据所述被测电路的输出信息判断所述被测电路的功能正确性。
2.根据权利要求I所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述产生电路包括 特征产生器(12)，用于产生特征序列；以及 模拟电路测试向量产生器(13)，连接于所述特征产生器(12)，用于根据所述特征序列得到所述测试向量。
3.根据权利要求2所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述产生电路还包括 随机序列产生器(11)，连接于所述模拟电路测试向量产生器(13)，用于产生随机测试向量序列， 其中，所述模拟电路测试向量产生器(13)用于将所述特征序列的信息加入所述随机测试向量序列，以产生含有特征信息的测试向量。
4.根据权利要求I所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述第一获取电路为模拟电路向量获取电路(21)，所述模拟电路向量获取电路(21)用于从数字模拟接口获取所述测试向量。
5.根据权利要求I所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述第二获取电路为解串行化电路，其中，所述解串行化电路用于获取所述被测电路的输出信息，以及将所述输出信息中的串行数据转换为并行数据。
6.根据权利要求I所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述第二获取电路为模数转换电路，其中，所述模数转换电路用于获取所述被测电路的输出信息，以及将所述输出信息中的模拟信号转换为数字信号。
7.根据权利要求5或6所述的模拟电路测试装置，其特征在于，包括数字电路(10)，其中，所述数字电路(10)包括所述产生电路和所述分析电路。
8.根据权利要求7所述的模拟电路测试装置，其特征在于，还包括 测试向量压缩电路(24)，用于抽取解串行化电路或模数转换电路(23)恢复的数据流中的特征信息，并加以压缩，回传给所述数字电路(10)。
9.根据权利要求8所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述分析电路为测试向量特征分析电路(15)，所述测试向量特征分析电路(15)用于分析经过所述测试向量压缩电路(24)压缩过的特征信息，并检测所述特征信息的正确性。
10.根据权利要求I所述的模拟电路测试装置，其特征在于，所述被测电路为串行器转换电路或数模转换电路。
全文摘要
本发明公开了一种模拟电路测试装置，包括产生电路，用于提供测试向量；第一获取电路，连接于被测电路的输入端和产生电路之间，用于获取测试向量以及将测试向量施加至被测电路；第二获取电路，连接于被测电路的输出端，用于获取被测电路的输出信息；以及分析电路，与第二获取电路相连接，用于根据被测电路的输出信息判断被测电路的功能正确性。通过本发明，解决了相关技术中的模拟电路测试方式需要连接外部设备才能够进行测试的问题，进而达到了使得模拟电路测试装置无需连接外部设备也能够进行测试的效果。
文档编号G01R31/316GK102628923SQ20121007324
公开日2012年8月8日 申请日期2012年3月19日 优先权日2012年3月19日
发明者宋红东, 隋海建 申请人:硅谷数模半导体(北京)有限公司, 硅谷数模国际有限公司