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专利名称：一种新型测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电子产品测试探针，特别涉及一种新型测试探针。
背景技术：
对电子产品的性能测试中，如果发现有参数异常，则需要在器件内部进行测试以寻找具体故障所在，在内部测试中，由于空间所限，探针是必须用到的工具。一般的使用过程是，将电子产品置于放大镜或者显微镜之下，然后在显微镜下操作，将探针针头扎在需要测试的区域。然而，某些电子产品本身比较大，难以放到放大镜或显微镜下，这样就无法测试，完全靠肉眼扎针，非常容易扎错。
发明内容为了克服上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种新型测试探针。为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:一种新型测试探针，包括测试探针1，测试探针I的针尾连接有测试导线3，在测试探针I的针身5上用螺栓4连接带有放大镜2的放大镜框架，放大镜2向与测试探针I的针头倾斜。所述放大镜2在放大镜框架中通过水平转轴连接，并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动。与现有技术相比，本实用新型将放大镜安装在探针上，能够在测试较大电子产品时直接用该放大镜观察测试扎点，给产品测试排障带来了很大的便利。

附图为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型进行更详尽的说明。如图所示，本实用新型为一种新型测试探针，包括测试探针1，测试探针I的针尾连接有测试导线3，在测试探针I的针身5上用螺栓4连接带有放大镜2的放大镜框架，放大镜2向与测试探针I的针头倾斜。放大镜2在放大镜框架中通过水平转轴连接，并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动。为实现上述安装方案，测试探针I的针身5是一个比较粗的套管，其上带有滑槽，能够让放大镜框架在其上滑动。使用时，通过滑动，先调整放大镜框架的高低位置，调整之后用螺栓4固定，然后转动放大镜2，调整倾斜度，达到最佳观察视角和放大程度。然后在放大镜2下将针头扎在待测区域，实现精确扎点。
权利要求1.一种新型测试探针，包括测试探针(I )，测试探针(I)的针尾连接有测试导线(3)，其特征在于，在测试探针(I)的针身(5)上用螺栓(4)连接带有放大镜(2)的放大镜框架，放大镜(2)向与测试探针(I)的针头倾斜。
2.根据权利要求1所述的新型测试探针，其特征在于，所述放大镜(2)在放大镜框架中通过水平转轴连接，并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动。
专利摘要一种新型测试探针，包括测试探针，测试探针的针尾连接有测试导线，在测试探针的针身上用螺栓连接带有放大镜的放大镜框架，放大镜向与测试探针的针头倾斜，放大镜在放大镜框架中通过水平转轴连接，并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动，本实用新型将放大镜安装在探针上，能够在测试较大电子产品时直接用该放大镜观察测试扎点，给产品测试排障带来了很大的便利。
文档编号G01R1/067GK203025218SQ20122063626
公开日2013年6月26日 申请日期2012年11月26日 优先权日2012年11月26日
发明者李佳 申请人:西安威正电子科技有限公司