专利名称：一种用于测量坩埚厚度的卡尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量工具技术领域，特别涉及一种用于測量坩埚厚度的卡尺。
背景技术：
在多晶铸锭生产中，坩埚是必不可少的消耗型材料，价格昂贵且一次性使用。坩埚的主要作用是盛放硅料，在铸锭炉中通过加热器加热，硅料会在坩埚内经历由固态到液态再到固态的相变过程。由于硅料完全熔化时温度较高(1560°C )，而石英坩埚一般在超过1200°C时就会变软，如果坩埚没有足够的厚度以及外部支撑，坩埚很容易发生破裂导致硅液泄漏，漏硅是非常严重的生产事故，不仅会造成较大的经济损失，甚至会威胁到人身安全。因此在铸锭生产中对坩埚的尺寸有着严格的要求。其中，坩埚的侧壁中下部以及底部是 主要的受カ部位，生产中应严格检查这些部位的厚度情況。现有技术中对坩埚侧壁以及底部的厚度的測量主要采用以下方法首先将坩埚放置在ー个水平工作台上，然后选取一个基准件，先将基准件放置在工作台上，測量坩埚上沿儿水平线与基准件交点到工作台的距离，再将基准件放在坩埚内，測量坩埚上沿儿水平线与基准件交点到坩埚底部内表面的距离，最后求出两个距离之差，即为该部位的厚度。上述采用直尺在水平面測量外表面和内表面的高度差的方法，为间接的測量方法，寻找坩埚上沿儿水平线与基准件的交点时会有较大的偏差，两次的读数也有一定的误差，两数想减更会使误差増大，因此传统的測量方法是ー个误差较大的测量方式。因此，如何提高对坩埚厚度的测量误差，是本领域内技术人员亟待解决的技术问题。
实用新型内容本实用新型的目的为提供一种用于測量坩埚厚度的卡尺，使用该卡尺对坩埚厚度进行测量所获得的測量结果比较精确，误差比较�。夜鄄熘惫�、使用方便。为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种用于測量坩埚厚度的卡尺，包括主尺、固定连接于所述主尺的一端部的固定測量爪、以及与所述固定測量爪配合设置、沿所述主尺滑动的滑动测量爪；所述主尺上设置有衡量所述滑动測量爪移动位移的刻度值，且两測量爪可闭合与所述主尺形成框型结构，当对所述坩埚的厚度进行测量时，所述滑动測量爪沿所述主尺滑动，两者形成ー开ロ，所述坩埚的侧壁或底壁可自所述开ロ处进入所述框型结构内部，并被夹紧。优选地，所述主尺的另一端部设置有用于限制所述滑动測量爪移动的限位板。优选地，所述滑动測量爪的滑动端部还设有游标刻度尺。优选地，还设有将所述滑动端部锁紧或解锁于所述主尺上的锁定部件。优选地，所述锁紧部件为紧固螺钉。优选地，所述滑动測量爪包括滑动连接所述主尺的第一臂和用于抵靠所述坩埚的第二臂，所述第一臂和所述第二臂的连接处还设有斜支撑部件。优选地，所述固定測量爪包括固定连接所述主尺的第三臂和用于抵靠所述坩埚的第四臂，且所述第三臂与所述主尺的连接处还设有斜支撑部件。优选地，所述第二臂靠近所述固定測量爪的端部设置有第一外凸平台，所述滑动測量爪通过所述第一外凸平台抵靠所述坩埚。优选地，所述第四臂的端部设置有于所述第一外凸平台相对应的第二外凸平台。优选地，所述第一外凸平台的横截面为圆形或方形。本实用新型提供了ー种卡尺，用于测量坩埚厚度，包括主尺、固定连接于所述主尺的一端部的固定測量爪、以及与所述固定測量爪配合设置、沿所述主尺滑动的滑动测量爪；所述主尺上设置有衡量所述滑动測量爪移动位移的刻度值，且两測量爪可闭合与所述 主尺形成框型结构，当对所述坩埚的厚度进行测量时，所述滑动測量爪沿所述主尺滑动，两者形成ー开ロ，所述坩埚的侧壁或底壁可自所述开ロ处进入所述框型结构内部，并被夹紧。当使用本实用新型所提供的卡尺对坩埚的侧壁或底壁的厚度进行测量时，首先沿主尺将滑动測量爪向远离固定測量爪的方向移动，当滑动测量爪、固定測量爪以及主尺围成的框型结构的开ロ尺寸略大于所述坩埚的侧壁的高度时，可以将滑动测量爪和固定測量爪置于坩埚底壁的上下两侧，然后再调节滑动测量爪的位置，至滑动测量爪和固定測量爪加紧底壁，此时从主尺的刻度尺上读取滑动测量爪移动位移，该位移值即为坩埚此处底壁的厚度值；同理，測量坩埚侧壁的厚度值时，与測量坩埚底壁的步骤相同，只需将卡尺的滑动测量爪和固定測量爪移动并卡紧于侧壁的相应位置即可。本实用新型提供的卡尺能够直接卡住被测面，并且从主尺上设置的刻度尺上直接读取被测面的数值，与现有技术的间接測量相比，本实用新型提供直接测量的方式，可以减少间接测量的误差，提高测量精度，并且观察直观、使用方便，简化测量程序，提高了测量效率。在一种优选的实施方式中，所述主尺的另一端部设置有用于限制所述滑动測量爪移动的限位板；该设置方式可以防止滑动测量爪滑出主尺。在一种优选的实施方式中，所述滑动測量爪的滑动端部还设有游标刻度尺；设置游标刻度尺进一步提闻了卡尺的测量精度。
图I为本发明所提供的ー种具体实施方式
中卡尺的结构示意图；图2为图I所示卡尺测量坩埚的底壁过程的第一状态示意图；图3为图I所示卡尺测量坩埚的底壁过程的第二状态示意图；图4为图I所示卡尺测量坩埚的侧壁过程的状态示意图；图5为图I所示卡尺中刻度尺和游标卡尺处的局部示意图；图6为本实用新型所提供的卡尺中第一外凸平台的俯视图。其中，图I至图6中部件名称与附图标记之间的一一对应关系如下所示主尺I、刻度尺11、滑动测量爪2、第一臂21、第二臂22、固定測量爪3、第三臂31、第四臂32、第一外凸平台9、第二外凸平台5、斜支撑部件4、游标刻度尺6、紧固螺钉7、限位板8、坩埚40。
具体实施方式
本实用新型的核心为提供一种用于測量坩埚厚度的卡尺，使用该卡尺对坩埚厚度进行测量所获得的測量结果比较精确，误差比较�。夜鄄熘惫邸⑹褂梅奖�。为了使本领域的技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进ー步的详细说明。请參考图1，图I为本发明所提供的ー种具体实施方式
中卡尺的结构示意图；图2为图I所示卡尺测量坩埚的底壁过程的第一状态示意图；图3为图I所示卡尺测量坩埚的底壁过程的第二状态示意图；图4为图I所示卡尺测量坩埚的侧壁过程的状态示意图。ー种卡尺，用于测量坩埚40的厚度，包括主尺I、固定连接于所述主尺I的一端部 的固定測量爪3、以及与所述固定測量爪3配合设置、沿所述主尺I滑动的滑动测量爪2 ;所述主尺I上设置有衡量所述滑动測量爪2移动位移的刻度尺11，刻度尺11的量程可以根据实际测量情况设置，一般地，刻度尺11的量程可以设置为IOOmm左右，且两测量爪可闭合与所述主尺I形成框型结构，当两者处于闭合状态时，滑动测量爪2可以对应刻度尺上的零刻度值，也可以为其他刻度值。当使用该卡尺对坩埚40的厚度进行测量时，滑动测量爪2沿主尺I滑动，两者形成ー开ロ，所述坩埚40的侧壁或底壁可自所述开ロ处进入所述框型结构内部，并被夹紧。当使用本实用新型所提供的卡尺对坩埚40的侧壁或底壁的厚度进行测量吋，首先沿主尺I将滑动測量爪2向远离固定測量爪3的方向移动，当滑动测量爪2、固定測量爪3以及主尺I围成的框型结构的开ロ尺寸略大于所述坩埚40的侧壁的高度时，可以将滑动測量爪2和固定測量爪3置于坩埚40底壁的上下两侧，然后再调节滑动测量爪2的位置，至滑动测量爪2和固定測量爪3加紧底壁，此时从主尺I的刻度尺上读取滑动测量爪2移动位移，该位移值即为坩埚40此处底壁的厚度值；同理，測量坩埚40侧壁的厚度值时，与测量坩埚40底壁的步骤相同，只需将卡尺的滑动测量爪2和固定測量爪3移动并卡紧于侧壁的相应位置即可。本实用新型提供的卡尺能够直接卡住被测面，并且从主尺I上设置的刻度尺上直接读取被测面的数值，与现有技术的间接測量相比，本实用新型提供直接测量的方式，可以減少间接测量的误差，提高测量精度，并且观察直观、使用方便，简化测量程序，提高了測量效率。在ー种具体实施方式
中，主尺I的另一端部可以设置有用于限制滑动测量爪2移动的限位板8，限位板8与主尺I可以组合设计为T型结构，如图I所示，当然，也可以设计为L型或Y型等其他的结构形式，该设置方式可以防止滑动测量爪2滑出主尺I。请參考图5，图5为图I所示卡尺中刻度尺和游标卡尺处的局部示意图。上述各实施例中，滑动测量爪2的滑动端部还可以设有游标刻度尺6，图5中给出了一种游标卡尺的具体结构，游标刻度的精度可以设计为O. 05mm,也可以根据測量精度的要求，设置为O. 02_或其他数值；设置游标刻度尺6进ー步提高了卡尺的測量精度。进ー步地，上述各实施例中的卡尺还可以设有将所述滑动端部锁紧或解锁于所述主尺I上的锁定部件，当滑动测量爪2和固定測量爪3卡紧坩埚40的侧壁或底壁时，可以使用锁定部件将滑动測量爪2和主尺I的位置锁定，在刻度尺上读取滑动测量爪2的位置数值，该设置方式可以避免读取滑动测量爪2位置数值时滑动测量爪2的相对移动，保证读取数值的准确。结合I至图4所示，上述锁定部件可以为结构比较简单的紧固螺钉7，也可以使用其他部件。其中，能够实现本文技术效果的滑动测量爪2和固定測量爪3的结构有多种形式，本文仅选取了一种优选的实施方式进行了详细描述，具体描述如下。请再次參考图1，在一种优选的实施方式中，上述各实施例中滑动测量爪22可以包括滑动连接主尺I的第一臂21和用于抵靠坩埚40的第二臂22，第一臂21和第二臂22可以构成L型结构，一般地，卡尺的滑动测量爪2和固定測量爪3的长度比较长，第一臂21和第二臂22的连接处还可以设有斜支撑部件4，斜支撑部件4与第一臂21和第二臂22可以构成稳定的三角结构，防止滑动测量爪2使用过程的变形。同理，固定測量爪33也可以包括固定连接主尺I的第三臂31和用于抵靠坩埚40的第四臂32，且第三臂31与所述主尺I的连接处还设有斜支撑部件4，防止固定測量爪3使用过程的变形，保证卡尺测量的准确性。进ー步地，第二臂22靠近固定測量爪3的端部可以设置有第一外凸平台9，所述滑动测量爪2通过所述第一外凸平台9抵靠所述坩埚40 ;设置第一外凸平台9可以适当増大与坩埚40測量位置的接触面积，保证夹紧的可靠性。进ー步地，第四臂32的端部设置有于第一外凸平台9相对应的第二外凸平台5，进ー步增加夹紧的可靠性。上述第一外凸平台9的横截面可以为圆形，如图6所示，也就是说第一外凸平台9为圆柱状，加工比较简単，当然第一外凸平台9也可以为柱状，即其横截面可以为方形或其他多边形。需要说明的是，上述横截面是指垂直于滑动測量爪2夹紧坩埚40方向的截面。以上对本实用新型所提供的ー种卡尺进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以对本实用新型进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。
权利要求1.一种用于測量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，包括主尺(I)、固定连接于所述主尺(I)的一端部的固定測量爪(3)、以及与所述固定測量爪(3)配合设置、沿所述主尺(I)滑动的滑动测量爪(2);所述主尺(I)上设置有衡量所述滑动測量爪(2)移动位移的刻度尺(II)，且两测量爪可闭合与所述主尺(I)形成框型结构，当对所述坩埚的厚度进行测量吋，所述滑动測量爪(2)沿所述主尺(I)滑动，两者形成ー开ロ，所述坩埚的侧壁或底壁可自所述开ロ处进入所述框型结构内部，并被夹紧。
2.根据权利要求I所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述主尺(I)的另ー端部设置有用于限制所述滑动測量爪(2)移动的限位板(8)。
3.根据权利要求I所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述滑动測量爪(2)的滑动端部还设有游标刻度尺(6)。
4.根据权利要求I所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，还设有将所述滑动端部锁紧或解锁于所述主尺(I)上的锁定部件。
5.根据权利要求4所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述锁紧部件为紧固螺钉⑵。
6.根据权利要求I至5任一项所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述滑动測量爪(2)包括滑动连接所述主尺(I)的第一臂(21)和用于抵靠所述坩埚的第二臂(22)，所述第一臂(21)和所述第二臂(22)的连接处还设有斜支撑部件(4)。
7.根据权利要求6所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述固定測量爪(3)包括固定连接所述主尺(I)的第三臂(31)和用于抵靠所述坩埚的第四臂(32)，且所述第三臂(31)与所述主尺(I)的连接处还设有斜支撑部件(4)。
8.根据权利要求7所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述第二臂(22)靠近所述固定測量爪(3)的端部设置有第一外凸平台，所述滑动測量爪(2)通过所述第一外凸平台(9)抵靠所述坩埚。
9.根据权利要求8所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述第四臂(32)的端部设置有于所述第一外凸平台(9)相对应的第二外凸平台(5)。
10.根据权利要求9所述的用于测量坩埚厚度的卡尺，其特征在于，所述第一外凸平台(9)的横截面为圆形或方形。
专利摘要本实用新型公开了一种用于测量坩埚厚度的卡尺，包括主尺、固定连接于主尺的一端部的固定测量爪、以及与固定测量爪配合设置、沿主尺滑动的滑动测量爪；主尺上设置有衡量滑动测量爪移动位移的刻度尺，且两测量爪可闭合与主尺形成框型结构，当对坩埚的厚度进行测量时，滑动测量爪沿主尺滑动，两者形成一开口，坩埚的侧壁或底壁可自开口处进入框型结构内部，并被夹紧；卡尺能够直接卡住被测面，并且从主尺上设置的刻度尺上直接读取被测面的数值，与现有技术的间接测量相比，本实用新型提供直接测量的方式，可以减少间接测量的误差，提高测量精度，并且观察直观、使用方便，简化测量程序，提高了测量效率。
文档编号G01B5/06GK202630869SQ20122030210
公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月26日 优先权日2012年6月26日
发明者夏新中 申请人:英利能源(中国)有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
