专利名称：光栅式成像光谱仪相对光谱响应度测试方法
技术领域：
本发明属于光学计量与测试领域，主要涉及一种成像光谱仪光谱响应度的测试方法，尤其涉及一种光栅式成像光谱仪相对光谱响应度的测试方法。
背景技术：
光电探测器在现代光学技术和光学工程中发挥着重要作用。光电探测器把光辐射转换成电量，其作用是发现信号、测量信号，并为应用提取必须的信号。光电探测器是成像光谱仪实现光电转换的关键部件，其性能的优劣将影响整个成像光谱仪的性能。实际探测器对光辐射的反应都会存在波长选择性，光谱响应度就是指不同波长处的响应度。探测器的相对光谱响应度有两种基本测量方法I)比较法，该方法是把被测探测器与已知光谱响应度的基准探测器比较。该方法需要一个辐射源、一台单色仪和一个基准探测器；2)滤光器法，该方法是利用已知光谱功率分布的标准光源和一组已知光谱透射·比函数的滤光器进行测量。成像光谱仪是20世纪80年代开始在多光谱遥感技术的基础上发展起来的新一代光学遥感器，它能够以高光谱分辨率获取景物和目标的超多谱段图象，在大气、海洋和陆地观测中正在得到广泛的应用。由于成像光谱仪是成像技术和光谱技术的有机结合，因此成像光谱仪的校准和测试，从技术上讲主要包括两大部分光谱辐射量标定和成像参数标定。其中，光谱辐射量标定的参数主要有波长范围、光谱分辨率、相对光谱响应度及空间均匀性等。国内在90年代初以西安光机所和上海技术物理研究所为代表开始成像光谱仪的研究和测试，投入了大量的人力和物力开展各类成像光谱仪的研究和开发工作，但校准测试只涉及辐射度参数几个波长点的测试。成像光谱仪根据其分光原理不同，主要有光栅成像光谱仪、渐变滤光成像光谱仪和声光可调谐成像光谱仪等。从目前的技术发展来看，光栅成像光谱仪由于技术成熟度高仍然占据着主导地位。目前光栅式成像光谱仪的相对光谱响应度普遍认为是成像光谱仪内部CCD光电探测器的光谱响应度，但是由于光栅式成像光谱仪整机系统结合了光学成像系统和光谱分光系统的特征，光学系统的成像质量及畸变以及分光情况等对光栅式成像光谱仪相对光谱响应度的影响不可忽略，仅仅以CCD光电探测器的相对光谱响应度来表不光栅式成像光谱仪整机系统的光谱响应度远远不能满足成像光谱仪实际测量精度的要求。
发明内容
本发明要解决的技术问题是，针对目前光栅式成像光谱仪相对光谱响应度测试存在的问题，提供了一种能够真实反映光栅式成像光谱仪相对光谱响应度的测试方法。为解决上述技术问题，本发明提供的光栅式成像光谱仪光谱响应度测试方法包括以下步骤
第I步，将积分球标准光源系统、含有一个平面反射镜和一个离轴抛物面镜的光学准直系统、被测光栅式成像光谱仪放置在光学平台上，其中，平面反射镜和离轴抛物面镜通过各自的三维可调支架支撑，光栅式成像光谱仪的输出端通过电缆与内置了测量软件包的计算机相连，所述测量软件包分为界面�？�、存储�？�、采集�？楹筒馐阅？椋缑婺？樯仙柚糜锌及磁�、结果显示按钮和参数设置栏，存储�？橹斜４媪吮曜脊馄追涔β时恚帽硎窃诨智虮曜脊庠床ǔし段谝浴� λ为步长所对应的一组标准光谱辐射功率φ (λ t);第2步，打开光栅式成像光谱仪和计算机的电源开关，光栅式成像光谱仪和计算机初始化后，打开积分球标准光源系统的电源开关，按压相应的电压值调节按钮，使积分球标准光源发出的光辐射信号强度满足测试要求，调节平面反射镜的三维可调支架，使积分球标准光源发出的光辐射信号均匀地照射在平面反射镜的中心区域；调节离轴抛物面镜的三维可调支架，使离轴抛物面镜的焦点与积分球光源系统的中心重合，当积分球光源发出的均匀光辐射信号经过平面反射镜反射后，通过离轴抛物面镜的准直和扩束，形成大口径平行出射光束并充满光栅式成像光谱仪的入口 ；
第3步，通过计算机界面�？榈牟问柚美福淙氩馐运璧牟ǔし段�、波长间隔，然后点击开始测试按钮，计算机采集�？樽远杉徊夤庹な匠上窆馄滓鞘涑龅囊蛔�
电压信号V(Xi，Aj)并将该组信号存放到存储�？橹校渲衖 = 1，2，......，n;j = 1，
2，......，m，n、m分别对应光栅式成像光谱仪中面阵CXD探测器nXm像元的行数和列数；第4步，计算机的测试模块调用存储�？橹械牟饬渴莺鸵阎莶⒍圆饬渴萁幸韵麓�4. I根据以下公式计算所述电压信号V(Xi，λ j)中每个信号所对应的光谱响应度S (Xi,入 j) s(Xi’Φ (Xi，λ J = Ι Φ (λ j)式中，Φ (λ ρ是积分球标准光源在j点波长上的光谱辐射功率，通过调用标准光谱辐射功率表获得；Φ (Xi，λ ρ是第i行第j列(XD像元的光谱功率，k为一个常数，q为测试系统的固定修正因子；4. 2计算机的测试模块按下式对所述光谱响应度S (Xi，λ ρ进行归一化处理，得到光栅式成像光谱仪的相对光谱响应度RUi，λ j)R (Xi, λ j) =TK
(X0，Aq )上式中，S(x0, λ 0)为光谱响应度S (Xi，λ j)中的最大光谱响应度；第5步，点击计算机界面�？榈慕峁允景磁ィ娲⒛？榻鱿喽怨馄紫煊Χ萊(xi； Aj.)以电子表格形式保存在计算机的存储器中，并根据这组数据绘制出所述相对光谱响应度R(Xi，Xj)以X，λ，R为坐标轴的立方体图形。本发明的整体技术效果体现在以下几个方面。I)本发明采用光谱辐射功率已知的均匀积分球标准光源，经过光学准直系统的准直和放大，为光栅式成像光谱仪提供了满足要求的光辐射信号；该光辐射信号经过光栅式成像光谱仪内部的望远光学系统后，在狭缝上成像，再通过光栅分光系统将狭缝像成在光栅式成像光谱仪内部的面阵CCD探测器上，因此，光栅式成像光谱仪内部的面阵CCD探测器接收到的是经过了成像光谱仪内部的光学成像系统和光栅分光系统后的光辐射信号，结合了光栅式成像光谱仪的分光特点，该光福射信号含有光学系统的成像质量和畸变以及分光情况等对光栅式成像光谱仪相对光谱响应度影响的因素，该方法能够真实地反映光栅式成像光谱仪实际的相对光谱响应度，能够满足光栅式成像光谱仪整机系统实际测量精度的要求。2)本发明主要用于光栅式成像光谱仪相对光谱响应度的准确测试，对于其他色散型成像光谱仪，由于其原理与光栅式成像光谱仪类似，因此，本发明还可以对其他色散型成像光谱仪的相对光谱响应度进行测试；本发明操作简单，通用性强，易于实现。
图I是典型的光栅式成像光谱仪结构示意图。
图2是光栅式成像光谱仪相对光谱响应度测试原理图。
具体实施例方式下面结合附图及优选实施例对本发明作进一步的详述。为了实现光栅式成像光谱仪相对光谱响应度的准确测试，本发明的总体构思是，选用光谱辐射功率已知的积分球标准光源，该标准光源发出的均匀光信号经光学准直系统后进入光栅式成像光谱仪，再结合光栅式成像光谱仪的成像及分光特点，由计算机信号采集与数据处理系统采集光栅式成像光谱仪的输出信号，进行相应的处理和计算，从而实现光栅式成像光谱仪相对光谱响应度的准确测试。根据图I所示，光栅式成像光谱仪一般依次由望远光学系统I'、狭缝2'、光栅分光系统3'和面阵CCD探测器4'等组成。进入光栅式成像光谱仪3的光辐射信号，经内部的望远光学系统I,在狭缝2'上成像，再通过光栅分光系统3'将狭缝像成在光栅式成像光谱仪内部的面阵CXD探测器4'上，面阵CXD探测器4'含有n*m个像元，η是面阵C⑶探测器4'的行数，m是面阵CXD探测器4'的列数。狭缝像经光栅分光系统3'色散后，产生η组波长为X1 λ m的光谱信号，该光谱信号被面阵CCD探测器4'接收，依次转换为n*m个电压信号 VUi, Aj)输出，其中 i = 1,2,......，n ;j = 1,2,......，m。本发明光栅式成像光谱仪相对光谱响应度测试方法的具体测试步骤如下第I步根据图2搭建测试系统。将积分球标准光源系统I、含有一个平面反射镜和一个离轴抛物面镜的光学准直系统2和被测光栅式成像光谱仪3放置在光学平台上，其中，平面反射镜和离轴抛物面镜通过各自的三维可调支架支撑，光栅式成像光谱仪的输出端通过电缆与计算机信号采集与数据处理系统4相连。积分球标准光源系统I主要由积分球标准光源及其供电系统组成，积分球标准光源为高稳定性的卤素灯，并能够在积分球的出口处获得非常均匀的光斑，提供波长范围为(380nm 2400nm)的连续标准信号；积分球供电系统带有电压值调节按钮和电压显示窗口和电流显示窗口，当按压电压值调节按钮时，电压显示窗口和电流显示窗口分别显示与该按钮相对应的电压值和电流值，并通过选择按压不同的电压值调节按钮，来实现控制和调节积分球输出信号的强度。计算机信号采集与数据处理系统4为内置了测量软件包的计算机，测量软件包分为界面�？�、存储�？�、采集�？楹筒馐阅？�。界面�？榈墓δ苁翘峁┎馐杂媒缑妫媒缑嫔仙柚糜锌及磁�、结果显示按钮、退出按钮和参数设置栏。其中，参数设置栏包括波长范围、波长间隔，波长范围是指被测光栅式成像光谱仪的初始波长和截止波长，波长间隔是为了减少测试计算量而设置的且通常取整数，该整数既要满足被测光栅式成像光谱仪的精度要求，又要不小于被测光栅式成像光谱仪的光谱分辨率；存储�？橹斜４媪吮曜脊馄追涔β时恚帽硎窃诨智虮曜脊庠床ǔし段谝浴� λ为步长所对应的一组标准光谱辐射功率Φ ( λ t),其中，λ = 380nm, λ t = 2400nm, Δ λ = Inm ;采集�？榈墓δ苁遣杉徊夤庹な匠上窆馄滓堑氖涑鲂藕挪⒈４嬖诖娲⒛？橹校徊馐阅？槭嵌员徊夤庹な匠上窆馄滓堑氖涑鲂藕沤邢嘤Φ拇恚玫焦庹な匠上窆馄滓堑南喽怨馄紫煊Χ炔馐越峁�。第2步调整测量光路。
打开光栅式成像光谱仪3和计算机，光栅式成像光谱仪3和计算机自动进行初始化，打开积分球标准光源系统I中供电电源的on/off开关，按下相应电压值调节按钮，该电压值既要保证积分球标准光源输出的光辐射信号有足够的亮度，又要避免积分球标准光源输出的光辐射信号造成光栅式成像光谱仪的输出信号发生饱和。调节平面反射镜的三维可调支架，使积分球标准光源发出的光辐射信号均匀地照射在平面反射镜的中心区域；调节离轴抛物面镜的三维可调支架，使离轴抛物面镜的焦点与积分球光源系统的中心重合，当积分球光源发出的均匀光辐射信号经过平面反射镜反射后，通过离轴抛物面镜的准直和扩束，形成大口径平行出射光束并充满光栅式成像光谱仪的λ 口，该光路构成实际测量光路,此时测量光路调整完成。第3步采集测试数据。首先，通过计算机的界面�？椋淙氩馐运璧牟饬坎问庑┎问úǔし段А⒉ǔぜ涓簦缓蟮慊骺疾馐园磁ィ蚣扑慊牟杉？椴杉徊夤庹な匠上窆馄滓鞘�
出的一组电压信号V(Xi，Aj)并将该组信号存放到存储模块中，其中i = 1,2,......，n ;j
=1,2,......, m。第4步计算测试结果。计算机中的测试模块调用存储�？橹械牟饬渴莶⒍圆饬渴萁幸韵麓�4. I根据以下公式计算一组电压信号V(Xi，λ j)中每个信号所对应的光谱响应度
S(Xi,入 j)s(Xi’ W 函Φ (Xi，λ j) = Ι Φ (λ j)式中，Φ ( λ ρ是积分球标准光源在j点波长上的光谱辐射功率，可通过标准光谱辐射功率表获得；Φ (Xi，λ ρ是第i行第j列CCD像元的光谱功率，由于积分球标准光源是均匀漫射光源，因此每个CXD像元上的光谱功率Φ (xi； λ j)是相等的；k为一个常数，在测试过程中固定不变；q为本发明所用测试系统的固定修正因子；q和k在计算过程中可以抵消掉而不参与实际运算。
4. 2计算机的测试�？榘聪率蕉哉庾楣馄紫煊Χ萐 (Xi，λ ρ进行归一化处理，从而
得到光栅式成像光谱仪的相对光谱响应度R(Xi，Aj.)
权利要求
1.一种光栅式成像光谱仪相对光谱响应度测试方法，其特征在于该方法包括以下步骤 第I步，将积分球标准光源系统、含有一个平面反射镜和一个离轴抛物面镜的光学准直系统、被测光栅式成像光谱仪放置在光学平台上，其中，平面反射镜和离轴抛物面镜通过各自的三维可调支架支撑，光栅式成像光谱仪的输出端通过电缆与内置了测量软件包的计算机相连，所述测量软件包分为界面模块、存储�？椤⒉杉？楹筒馐阅？椋缑婺？樯仙柚糜锌及磁ァ⒔峁允景磁ズ筒问柚美福娲⒛？橹斜４媪吮曜脊馄追涔β时恚帽硎窃诨智虮曜脊庠床ǔし段谝驭� λ为步长所对应的一组标准光谱辐射功率CD(At)； 第2步，打开光栅式成像光谱仪和计算机的电源开关，光栅式成像光谱仪和计算机初始化后，打开积分球标准光源系统的电源开关，按压相应的电压值调节按钮，使积分球标准光源发出的光辐射信号强度满足测试要求，调节平面反射镜的三维可调支架，使积分球标准光源发出的光辐射信号均匀地照射在平面反射镜的中心区域；调节离轴抛物面镜的三维可调支架，使离轴抛物面镜的焦点与积分球光源系统的中心重合，当积分球光源发出的均匀光辐射信号经过平面反射镜反射后，通过离轴抛物面镜的准直和扩束，形成大口径平行出射光束并充满光栅式成像光谱仪的入口； 第3步，通过计算机界面�？榈牟问柚美福淙氩馐运璧牟ǔし段�、波长间隔，然后点击开始测试按钮，计算机采集�？樽远杉徊夤庹な匠上窆馄滓鞘涑龅囊蛔榈缪剐藕臯(Xi，Aj.)并将该组信号存放到存储模块中，其中i = 1,2,......，n ;j = 1,2,......，m, n、m分别对应光栅式成像光谱仪中面阵CXD探测器nXm像元的行数和列数； 第4步，计算机的测试�？榈饔么娲⒛？橹械牟饬渴莺鸵阎莶⒍圆饬渴萁幸韵麓� .4.I根据以下公式计算所述电压信号V(Xi，λ P中每个信号所对应的光谱响应度S(Xi，
全文摘要
本发明公开了一种成像光谱仪光谱响应度测试方法，属于光学计量与测试领域。由于光栅式成像光谱仪集成了光学成像系统和光谱分光系统的特征，因此光栅式成像光谱仪光学系统的成像质量及畸变等对成像光谱仪光谱响应度的影响也至关重要，因此只测试CCD光电探测器的光谱响应度远远不能满足成像光谱仪的测试要求。本发明实现了光栅式成像光谱仪光谱响应度的准确测试。该测试方法解决了目前光栅式成像光谱仪的光谱响应度无法准确测试的难题，填补了光栅式成像光谱仪光谱响应度测量领域的空白，其主要优点是操作简单、易于实现。
文档编号G01J3/28GK102879095SQ201210384170
公开日2013年1月16日 申请日期2012年10月11日 优先权日2012年10月11日
发明者李燕, 占春连, 李正琪, 卢飞, 范纪红 申请人:中国兵器工业第二〇五研究所
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