专利名称：发光二极管立式测试方案的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种发光二极管测试方案，进一步涉及一种通过改变发光二极管放置位置的测试方案。
背景技术：
发光二极管LED的光学参数中重要的几个方面就是光通量、发光效率、发光强度、光强分布、波长。发光效率表征了光源的节能特性，这是衡量现代光源性能的一个重要指标。因此，在二极管出厂前必须对二极管进行测试。目前市场上侧发光型贴片发光二极管的测试方案均是由吸嘴将发光二极管吸附在圆盘上，然后将圆盘整体下压，使发光二极管的引脚与下面的探针组件接触，从而使发光二极管通电发光，用侧面安装的检测装置对发光二极管进行测试。现有方案的缺点是，此种测试方案只能对侧发光型的贴片发光二极管有效，对于占市场份额很大的顶部发光型的发光二极管无法测试。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种同时测试侧面和顶部发光二极管的兼容性测试方案。本发明提供一种侧面发光型发光二极管立式测试方案，该方案包括首先通过立出型震动盘将发光二极管进行筛�。共喾⒐庑头⒐舛芊⒐饷娉狭⒆沤胝鸲套钋岸耍蝗缓笸ü狭献爸媒⒆诺牟喾⒐庑头⒐舛艽诱鸲套钋岸宋觯湃氲阶ぷ髋痰奈熘校婵沼晌旖⒐舛艽硬嗝嫖浇籼谖焐希蛔詈笸ü郊薪舻奶秸耄硬嗝婕凶〔喾⒐庑头⒐舛艿囊牛ǖ�、检测。本发明通过将侧发光型贴片发光二极管立着放入吸嘴中，使侧发光型贴片发光二极管发光方向朝上，从而很好的使之与顶部发光型发光二极管的测试方式一致，从而使侧发光型发光二极管的检测设备与顶部发光型发光二极管的检测设备的互换性大大增强。与现有技术相比，本发明的优点在于由于此种测试方式与其他类型发光二极管的测试方式一致，所以可以使侧发光型测试设备与其他类型发光二极管测试设备很好互换。下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。
图1是本发明发光二极管立式测试方案的流程图。
具体实施例方式请参阅图1，本发明所提供较佳实施例的一种发光二极管立式测试方案，该方案包括首先通过侧发光型震动盘将发光二极管进行筛选，使侧发光型发光二极管发光面朝上立着进入震动盘最前端；然后通过上料装置将立着的侧发光型发光二极管从震动盘最前端吸出，放入到转动工作盘的吸嘴中，真空由吸嘴将侧发光型发光二极管从侧面吸附紧贴在吸嘴上；最后通过水平夹紧的探针，从侧面夹住侧发光型发光二极管的引脚，通电、检测。本发明主要针对发光二极管测试方案所进行的改进，以上所述仅为本发明较佳实施例而已，非因此即局限本发明的专利范围，故举凡用本发明说明书及图式内容所为的简易变化及等效变换，均应包含于本发明的专利范围内。
权利要求
1. 一种发光二极管立式测试方案，该方案包括首先通过立出型震动盘将发光二极管进行筛�。狗⒐舛芊⒐饷娉狭⒆沤胝鸲套钋岸耍蝗缓笸ü狭献爸媒⒆诺姆⒐舛艽诱鸲套钋岸宋觯湃氲阶ぷ髋痰奈熘校婵沼晌旖⒐舛艽硬嗝嫖浇籼谖焐希蛔詈笸ü郊薪舻奶秸耄硬嗝婕凶》⒐舛艿囊牛ǖ�、检测。
全文摘要
本发明涉及一种发光二极管立式测试方案，该方案包括首先通过立出型震动盘将发光二极管进行筛�。狗⒐舛芊⒐饷娉狭⒆沤胝鸲套钋岸耍蝗缓笸ü狭献爸媒⒆诺姆⒐舛艽诱鸲套钋岸宋觯湃氲阶ぷ髋痰奈熘校婵沼晌旖⒐舛艽硬嗝嫖浇籼谖焐希蛔詈笸ü郊薪舻奶秸耄硬嗝婕凶》⒐舛艿囊牛ǖ纭⒓觳�。此种测试方式与其他类型发光二极管的测试方式一致，所以可以使侧发光型发光二极管的测试设备与其他类型发光二极管测试设备很好互换。
文档编号G01M11/02GK102323043SQ20111027404
公开日2012年1月18日 申请日期2011年9月15日 优先权日2011年9月15日
发明者刘骏, 卓维煌 申请人:深圳市华腾半导体设备有限公司
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