专利名称：逆反射材料反射比测量装置及方法
技术领域：
本发明涉及反射比测量技术领域，特别涉及一种逆反射材料反射比测量装置及方法。
背景技术：
目前公知的材料反射测量仪器主要分为两类，一类可以测量材料镜面反射比，一 类可以测量材料的漫反射比。尚未有能测量逆反射材料反射比的仪器出现。若利用已有的 两类仪器测量逆反射材料反射比，则会由于反射光的逆向返回，使得探测器无法收集到反 射光，导致测量结果发生错误，产生较大误差，无法保证测量值的准确性。
发明内容
(一)要解决的技术问题本发明要解决的技术问题是如何提供一种测量逆反射材料反射比的装置及方 法，且保证测量值的准确性。( 二 )技术方案为解决上述技术问题，本发明提供了一种逆反射材料反射比测量装置，包括依次 连接的测量�？�、存储�？楹图扑隳？椋霾饬磕？椋糜诓饬吭ど栊藕攀莺痛庑藕攀荩⒔鲈ど栊藕攀� 和待测信号数据发送至所述存储�？榻写娲ⅲ鲈ど栊藕攀菸砸阎瓷浔鹊牟牧� 为测量对象时，测量到的信号数据，所述待测信号数据为以待测逆反射材料为测量对象时， 测量到的信号数据；所述存储�？椋糜诖娲⑺鲆阎瓷浔鹊牟牧系姆瓷浔纫约八鲈ど栊藕攀� 和待测信号数据；所述计算�？椋糜诟菟鲆阎瓷浔鹊牟牧系姆瓷浔纫约八鲈ど栊藕攀� 和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。其中，所述测量装置，还用于测量背景信号数据，并将所述背景信号数据发送至所 述存储�？榻写娲ⅲ霰尘靶藕攀菸圆饬磕？楸旧砦饬慷韵笫保饬康降男藕� 数据；所述存储�？椋褂糜诖娲⑺霰尘靶藕攀荩凰黾扑隳？椋褂糜诟菟鲆阎瓷浔鹊牟牧系姆瓷浔纫约八霰尘靶藕攀� 据、预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。其中，所述测量模块包括积分球、探测器和光源，所述积分球的一条直径两端分 别设有探测器口、样品口，所述积分球还设有入射光口，所述光源设于所述入射光口处，所 述探测器设于所述探测器口处，所述探测器与所述存储�？橄嗔�。其中，所述入射光口设于所述积分球上一条直径的一端，所述入射光口所在直径 与所述探测器口和样品口所在直径垂直。
本发明还公开了一种基于所述的逆反射材料反射比测量装置的测量方法，包括以 下步骤Sl 以已知反射比的材料为测量对象，测量预设信号数据，并存储于所述存储模 块；S2 以待测逆反射材料为测量对象，测量待测信号数据，并存储于所述存储�？椋籗3:根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据 计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。其中，步骤S3中，根据下列公式，计算待测逆反射材料的反射比，
权利要求
1.一种逆反射材料反射比测量装置，其特征在于，包括依次连接的测量模块(1)、存 储�？�(2)和计算�？�(3)，所述测量�？�(1)，用于测量预设信号数据和待测信号数据，并将所述预设信号数据和 待测信号数据发送至所述存储�？�( 进行存储，所述预设信号数据为以已知反射比的材 料为测量对象时，测量到的信号数据，所述待测信号数据为以待测逆反射材料为测量对象 时，测量到的信号数据；所述存储�？镺)，用于存储所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据 和待测信号数据；所述计算�？�(3)，用于根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据 和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。
2.如权利要求1所述的逆反射材料反射比测量装置，其特征在于，所述测量装置(1)， 还用于测量背景信号数据，并将所述背景信号数据发送至所述存储�？�( 进行存储，所 述背景信号数据为以测量�？�(1)本身为测量对象时，测量到的信号数据；所述存储�？镺)，还用于存储所述背景信号数据；所述计算�？�(3)，还用于根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述背景信号数 据、预设信号数据和待测信号数据计算，获得所述待测逆反射材料的反射比。
3.如权利要求1所述的逆反射材料反射比测量装置，其特征在于，所述测量�？榘� 积分球(1-1)、探测器(1- 和光源(1-3)，所述积分球(1-1)的一条直径两端分别设有探 测器口(1-4)、样品口(1-5)，所述积分球(1-1)还设有入射光口(1-6)，所述光源(1-3) 设于所述入射光口(1-6)处，所述探测器(1-2)设于所述探测器口(1-4)处，所述探测器 (1-2)与所述存储�？�(2)相连。
4.如权利要求3所述的逆反射材料反射比测量装置，其特征在于，所述入射光口(1-6) 设于所述积分球(1-1)上一条直径的一端，所述入射光口(1-6)所在直径与所述探测器口 (1-4)和样品口(1-5)所在直径垂直。
5.一种基于如权利要求1-4任一项所述的逆反射材料反射比测量装置的测量方法，其 特征在于，包括以下步骤51以已知反射比的材料为测量对象，测量预设信号数据，并存储于所述存储�？椋�52以待测逆反射材料为测量对象，测量待测信号数据，并存储于所述存储模块；53根据所述已知反射比的材料的反射比以及所述预设信号数据和待测信号数据计 算，获得所述待测逆反射材料的反射比。
6.如权利要求5所述的逆反射材料反射比测量方法，其特征在于，步骤S3中，根据下列 公式，计算待测逆反射材料的反射比， 其中，Z为待测逆反射材料的反射比，M为所述已知反射比的材料的反射比，X为待测信 号数据，R为预设信号数据。
7.如权利要求5所述的逆反射材料反射比测量方法，其特征在于，在步骤Sl之前包括 步骤Sll 以测量�？楸旧砦饬慷韵螅饬勘尘靶藕攀荩⒋娲⒂诖娲⒛？椋徊街鑃3中根据下列公式，计算待测逆反射材料的反射比， ▽ (X-B)* ML —-R-B其中，Z为待测逆反射材料的反射比，M为所述已知反射比的材料的反射比，B为背景信 号数据，X为待测信号数据，R为预设信号数据。
8.如权利要求7所述的逆反射材料反射比测量方法，其特征在于，步骤Sll中，对积 分球的入射光口进行遮挡，并将已知反射比的材料或待测逆反射材料放置于积分球的样品
9.如权利要求5所述的逆反射材料反射比测量方法，其特征在于，在步骤Sl中，将已知 反射比的材料置于积分球的样品口。
10.如权利要求5所述的逆反射材料反射比测量方法，其特征在于，在步骤S2中，将待 测逆反射材料置于积分球的样品口。
全文摘要
本发明公开了一种逆反射材料反射比测量装置，包括依次连接的测量模块、存储模块和计算�？椋霾饬磕？椋糜诓饬吭ど栊藕攀莺痛庑藕攀荩⒔鲈ど栊藕攀莺痛庑藕攀莘⑺椭了龃娲⒛？榻写娲ⅲ凰龃娲⒛？椋糜诖娲⑺鲆阎瓷浔鹊牟牧系姆瓷浔纫约八鲈ど栊藕攀莺痛庑藕攀荩凰黾扑隳？椋糜诟菟鲆阎瓷浔鹊牟牧系姆瓷浔纫约八鲈ど栊藕攀莺痛庑藕攀菁扑悖竦盟龃饽娣瓷洳牧系姆瓷浔龋苯佑糜诓饬磕娣瓷洳牧系姆瓷浔龋也饬恐档淖既沸愿�。
文档编号G01N21/17GK102128793SQ20101059490
公开日2011年7月20日 申请日期2010年12月17日 优先权日2010年12月17日
发明者冯国进, 郑春弟 申请人:中国计量科学研究院
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