专利名称：芯片模组电阻测试插座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种芯片模组测试装置，尤其涉及一种摄像头芯片模组电阻测试插座。
背景技术：
SOC(System-On-Chip)系列摄像头芯片模组是一种新型的CMOS芯片成像集成系统，它使用数字图像信号处理器(ISP)和SOC的算法，定义良好的一步一步的指示、调整，使处理后的图像或视频，比原来的美观，更直观的图像传感器收集的原始数据。SOCS是在单一芯片上强大的处理的S0C，内置图像传感器芯片级，易于集成，能降低整体系统成本。目前由于大多数的CMOS成像模组的镜头外壳均需进行电镀镍处理，以将芯片及 内部结构进行电流屏蔽，使芯片功能不被外界电磁干扰。相应所催生的现有模组电阻测试插座是对镜头外壳所做的电镀层进行电阻值进行检验，以确保电镀的镍层能达到设计要求。但现有的模组电阻测试插座中一般是采用气缸带动ICT探针去接触模组，其结构复杂，容易产生开路和短路现象，而且稳定性较差，测试效率低。
实用新型内容本实用新型的目的在于提出一种芯片模组电阻测试插座，其结构简单，操作方便，能确保测试的稳定性和可靠性，且测试效率高，从而克服了现有技术中的不足。为实现上述实用新型目的，本实用新型采用了如下技术方案一种芯片模组电阻测试插座，包括上盖组件以及底座，其特征在于所述上盖组件包括上盖主体、上盖框架和压板，所述上盖主体两端分别经一转轴与上盖框架一端和一卡扣连接，所述上盖框架固定叠设在底座上，所述卡扣上部与上盖主体上端面之间设有复数第一弹性元件，所述上盖框架另一端设有可与卡扣配合的固定机构，所述压板与上盖主体下端面固定连接，且压板与上盖主体之间还分布有复数第二弹性元件；所述底座包括底座主体、复数滑块和复数探针，所述底座主体下部对称分布有复数插槽，每一插槽内设有一滑块，每一滑块内均插设有一探针，且每一探针头部均伸入设于底座主体上端面的容置槽内，同时,每一滑块头部与底座主体之间还均设有第三弹性元件。优选的，所述压板经复数滑块下压销钉与上盖主体下端面固定连接。优选的，所述固定机构采用固定设置于底座另一端的水平滑管。优选的，所述卡扣上部具有一平面部以及一倾斜上突部，下部具有一卡钩部，所述复数第一弹性元件对称设于上盖主体上端面与卡扣的平面部之间，所述第一弹性元件优选采用扭簧。优选的，所述压板上端面四角处对称设有复数安装孔，每一安装孔内设有一第二弹性元件，所述第二弹性元件优选采用弹簧。优选的，所述滑块内沿轴向设有安装孔，所述探针插设于该安装孔内。[0014]优选的，所述滑块头部对称分布有复数容置孔，每一容置孔内设有一第三弹性元件，所述第三弹性元件优选采用复位弹簧。优选的，所述滑块还经复数铆钉与底座主体固定连接。优选的，所述底座下端面还连接有复数支脚，所述支脚上均套设有弹簧。优选的，所述探针优选采用ICT探针。
图I是本实用新型一较佳实施例中芯片模组电阻测试插座的分解结构示意图；图2是本实用新型一较佳实施例中芯片模组电阻测试插座上盖的分解结构示意 图；图3a是图2所示芯片模组电阻测试插座上盖的立体图；图3b是图2所示芯片模组电阻测试插座上盖的俯视图；图3c是图2所示芯片模组电阻测试插座上盖的剖面结构示意图；图3d是图2所示芯片模组电阻测试插座上盖的仰视图；图4a是图I所示芯片模组电阻测试插座底座的仰视图；图4b是图I所示芯片模组电阻测试插座底座的俯视图；图4c是图I所示芯片模组电阻测试插座底座于测试时的剖面结构示意图；图4d是图4c所示芯片模组电阻测试插座底座的局部放大结构示意图；图4e是图I所示芯片模组电阻测试插座底座于非测试时的剖面结构示意图；图4f是图4e所示芯片模组电阻测试插座底座的局部放大结构示意图；图5是本实用新型一较佳实施例中芯片模组电阻测试插座于完全打开状态时的结构示意图；图中各组件及其附图标记分别为上盖组件I、轴销101、滑块下压销钉102、上盖框架103、上盖主体104、卡扣105、压板106、螺钉107、销轴套108、螺钉109、滑管110、弹簧111、底座2、底座主体201、销钉202、销钉203、螺套204、包装205、滑块206、支脚207、铆钉208、复位弹簧209、探针210。
具体实施方式
针对此种现状，本案发明人经长期研究和实践，提出了本实用新型的技术方案，
以下结合附图及一较佳实施例该技术方案作进一步的说明。请参阅图1-5，该芯片模组电阻测试插座包括上盖组件I以及底座2，其中所述上盖组件包括上盖主体104、上盖框架103和压板106，所述上盖主体两端分别经一转轴与上盖框架一端和一卡扣105连接，所述上盖框架固定叠设在底座上，所述卡扣上部与上盖主体上端面之间设有复数第一弹性元件，所述上盖框架另一端设有可与卡扣配合的固定机构110，所述压板106与上盖主体104下端面固定连接，且压板与上盖主体之间还分布有复数第二弹性元件111 ;所述底座包括底座主体201、复数滑块206和复数探针207，所述底座主体下部对称分布有复数插槽，每一插槽内设有一滑块206，每一滑块内均插设有一探针210，且每一探针头部均伸入设于底座主体上端面的容置槽内，同时，每一滑块头部与底座主体之间还均设有第三弹性元件209。优选的，压板(经复数滑块下压销钉102与上盖主体104下端面固定连接，且前述滑块206上具有与下压销钉下端配合的斜面。优选的，所述固定机构采用固定设置于底座另一端的水平滑管。优选的，所述卡扣上部具有一平面部以及一倾斜上突部，下部具有一卡钩部，所述复数第一弹性元件对称设于上盖主体上端面与卡扣的平面部之间，所述第一弹性元件优选采用扭簧。优选的，所述压板上端面四角处对称设有复数安装孔，每一安装孔内设有一第二 弹性元件，所述第二弹性元件优选采用弹簧。优选的，所述滑块内沿轴向设有安装孔，所述探针插设于该安装孔内。优选的，所述滑块头部对称分布有复数容置孔，每一容置孔内设有一第三弹性元件，所述第三弹性元件优选采用复位弹簧。优选的，所述滑块还经复数铆钉与底座主体固定连接。优选的，所述底座下端面还连接有复数支脚，所述支脚上均套设有弹簧。优选的，所述探针优选采用ICT探针。参阅图4c_4f，该测试插座在测试状态时上盖组件下压，卡扣卡�。钩サ山谎顾酰橄そ哟セ椋Ｖざ愿《搴湍Ｗ榈南卵沽Γ固秸胪耆哟ツＷ橥饪牵繁５缏返牧ǎ欢诜遣馐宰刺笨ǹ鬯沙冢卵瓜げ唤哟セ椋Ｖごτ诜枪ぷ髯刺�。且在打开上盖组件时，上盖组件与底座自然形成110度的夹角，符合人体操作视角和手法，使操作极为方便。具体而言，在测试状态下上压块滑块销钉下压，下顶滑块斜面，使滑块带动ICT探针前移，ICT探针前部完全解除模组面，预期设定的压缩值会使弹簧和模组外表面的镀镍面充分接触，确保IC上的电路和PCB上的电路接通，同时确保模组外壳表面镀镍面不被损坏；而在非测试状态下滑块销钉退出，复位弹簧使滑块复位，带动ICT探针复位，模组不被探针接触，探针(P0G0 PIN)在没受到外力压制的情况下，保持松弛状态，确保探针处于非受压状态，保证探针的使用寿命和寿命期内的导通功能正常。通过采用前述集成化的设计方案，使得该芯片模组电阻测试插座至少具有如下优点(1)结构简单，使用方便，适用于个人手动PC测试操作，单机、单人的测试效率大大提升，测试频度可以和测试简单的芯片测试保持一致；(2)能满足多种规格芯片模组测试需求，符合客户定制的模组电阻测试治具，适用于集成电路模组的测试和功能验证；(3)放置槽的设计解决了人操作时放置模组及其模组精确定位问题，同时放置易操作，操作方便性大大增强；(4)上盖组件弹性自动补偿功能将探针的压力进行自动抵消，减少了探针弹簧对模组外壁的压力，保护了模组结构；(5)采用ICT测试探针，确保了测试的稳定性和可靠性；(6)探针的寿命大大提升，可以满足10万次的IC检测，减少了测试的费用。以上较佳实施例仅供说明本实用新型之用，而非对本实用新型的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，所作出各种变换或变型，均属于本实用新型的范畴。
权利要求1.一种芯片模组电阻测试插座，包括上盖组件(I)以及底座(2)，其特征在于 所述上盖组件包括上盖主体(104)、上盖框架(103)和压板(106)，所述上盖主体两端分别经一转轴与上盖框架一端和一卡扣(105)连接，所述上盖框架(103)固定叠设在底座(2)上，所述卡扣(105)上部与上盖主体(104)上端面之间设有复数第一弹性元件，所述上盖框架(103)另一端设有可与卡扣(105)配合的固定机构(110)，所述压板(106)与上盖主体(104)下端面固定连接，且压板与上盖主体之间还分布有复数第二弹性元件(111)； 所述底座(2)包括底座主体(201)、复数滑块(206)和复数探针(207)，所述底座主体(201)下部对称分布有复数插槽，每一插槽内设有一滑块(206)，每一滑块内均插设有一探针(210)，且每一探针头部均伸入设于底座主体上端面的容置槽内，同时，每一滑块头部与底座主体之间还均设有第三弹性元件(209)。
2.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述压板(106)经复数滑块下压销钉(102)与上盖主体(104)下端面固定连接。
3.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述固定机构(110)采用固定设置于底座另一端的水平滑管。
4.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述卡扣(105)上部具有一平面部以及一倾斜上突部，下部具有一卡钩部，所述复数第一弹性元件对称设于上盖主体(104)上端面与卡扣(105)的平面部之间，所述第一弹性元件优选采用扭簧。
5.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述压板(106)上端面四角处对称设有复数安装孔，每一安装孔内设有一第二弹性元件，所述第二弹性元件(111)优选采用弹簧。
6.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述滑块(206)内沿轴向设有安装孔，所述探针(210)插设于该安装孔内。
7.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述滑块(206)头部对称分布有复数容置孔，每一容置孔内设有一第三弹性元件(209)，所述第三弹性元件(209)优选采用复位弹簧。
8.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述滑块(206)还经复数铆钉(208)与底座主体(201)固定连接。
9.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述底座下端面还连 接有复数支脚(207)，所述支脚上均套设有弹簧。
10.根据权利要求I所述的芯片模组电阻测试插座，其特征在于，所述探针(210)优选采用ICT探针。
专利摘要本实用新型公开了一种芯片模组电阻测试插座，包括固定连接的上盖组件以及底座，该上盖组件包括上盖主体、上盖框架和压板等，该上盖主体两端分别与上盖框架一端和一卡扣铰接，该卡扣与上盖主体之间及压板与上盖主体之间均设有若干弹簧，该底座包括底座主体、复数滑块和探针等，底座主体下部设有若干滑块，每一滑块内均设有一探针，且每一探针头部均伸入设于底座主体上端面的容置槽内，同时，每一滑块头部与底座主体之间还均设有若干弹簧。本实用新型结构简单，易于操作，能用于对多种规格的模组进行测试，并能有效保护模组结构，同时能大幅延长探针的寿命，节约测试费用，且测试效果稳定精确，单机、单人的测试效率高。
文档编号G01R1/04GK202614795SQ201220192189
公开日2012年12月19日 申请日期2012年5月2日 优先权日2012年5月2日
发明者朱小刚 申请人:苏州创瑞机电科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
