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专利名称：高聚物检测薄膜快速制备装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种针对热稳定的热塑性高聚物检测薄膜的快速制备装置。
背景技术：
红外光谱分析一般都采用透射检测法，它具有较高的准确性和可靠性，而红外定量分析则必须采用透射法，因此对于热塑性高聚物来说，制样方法只能选择薄膜法。目前由于大部分烯烃聚合物及部分特殊聚合物，如尼龙，PET等的溶解性很差，需用特殊溶剂，如邻二氯苯，二甲苯、邻甲酚等，只有在高温回流的情况下才能将其溶解，故常温下无法得到均一的样品溶液，从而限制了这部分聚合物采用溶液制膜的可能性。而切片法仅限于块状塑料，对小颗粒或粉末状塑料样品不适用，因此对于热稳定的热塑性聚合物来说，在热熔状态下制备薄膜测试样品就是一种全能的方法。事实上，目前傅里叶变换红外光谱仪的生产厂商均能提供针对热塑性聚合物制样的热压成膜机，但是价格不菲，而且操作比较复杂，还需 借助压力机才能完成制膜，工作人员工作量大，薄膜制备时间长，降低了红外检测效率，因此国内配置该设备的实验室并不多。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题在于克服现有技术的缺陷而提供一种结构简单，操作方便，成本低廉，具有较高普及推广价值的高聚物检测薄膜快速制备装置，该制备装置能有效减轻工作人员工作量、缩短薄膜制备时间、提高红外检测效率。本实用新型的技术问题通过以下技术方案实现一种高聚物检测薄膜快速制备装置，包括滑轨底板和滑板，该滑板沿滑轨底板作滑移设置，所述的滑轨底板包括一个表面光滑的平板，该平板两侧分别设有平行延伸的滑轨；所述的滑板安装在平板上方，该滑板底面与平板表面之间留有距离可调的间隙d，滑板两侧分别设有滑块，该两个滑块分别滑移配装在两条滑轨内。所述的滑轨横截面呈“L”型。所述的间隙d的尺寸范围在0. 05^0. 15mm。所述的滑轨深度hi大于滑轨底面与平板表面之间的距离h2。所述的平板表面、滑轨内表面和滑板底面的平整度均不高于0. 04mm ;滑块与滑轨相接触的滑块外表面平整度也不高于0. 04_。所述的滑板底面与平板表面的距离可调结构是在两个滑块上设有安装槽，所述的滑板、下活动设置在该安装槽内，并由调节螺钉旋紧连接。所述的两条滑轨长度相等，每条滑轨的长度均大于或等于平板长度。所述的两条滑轨顶面均设有导向条，相应在滑板两侧分别设有与导向条作配装的导向块。所述的滑轨底板、滑板和滑块均为熔点不低于500°C的单质金属或合金材质制成。所述的滑板上安装有手柄，该手柄为熔点不低于500°C的单质金属手柄或合金材质手柄或木质手柄或陶瓷手柄。与现有技术相比，本实用新型主要是将滑板通过两个滑块分别滑移配装在滑轨底板的两条滑轨内，这使得滑板能在滑轨底板的平板上方进行直线往复移动，同时滑板底面与平板表面又留有距离可调的间隙d，通过调节间隙d的大小就能达到制备不同厚度薄膜的目的，改进后的结构更为简单，不但操作方便，成本低廉，而且还具有能有效减轻工作人员工作量、缩短薄膜制备时间、提高红外检测效率等优点，故具有较高普及推广价值。

图I为本实用新型的结构示意图(主视图)。图2为滑轨底板的结构示意图(主视图)。 图3为滑轨底板的立体图。图4为滑板的立体图。
具体实施方式
下面将结合上述附图对本实用新型再作详细说明。如图f图4所示，I.平板、11.平板表面、2.滑轨、21.滑轨内表面、3.滑板、31.滑板底面、4.滑块、41.滑块外表面、5.导向条、6.手柄、7.导向块、8.调节螺钉。高聚物检测薄膜快速制备装置，如图I所示，主要适用于热稳定的热塑性高聚物检测薄膜的制备，也是红外光谱等分析仪器的理想制样装置，其结构主要是由滑轨底板和滑板3等构成。所述的滑轨底板是由平板I和分别安装在平板两侧的滑轨2所构成，该平板I呈矩形状，其表面为平整度不高于0. 04mm的光滑平面，该两条滑轨2平行延伸设置在平板I两侧，每条滑轨2的横截面均呈“L”型，根据实际工作情况可将横截面均呈“L”型的两条滑轨设计为相同尺寸或不同尺寸。该两条滑轨2的长度相等、且必须大于或等于平板I长度，滑轨内表面21的平整度不高于0. 04_，而滑轨深度hi还需大于滑轨底面与平板表面之间的距离h2，同时在每条滑轨2顶面还设有与滑轨同向延伸的导向条5。所述的平板I和滑轨2采用连体结构或分体结构，连体结构是直接在平板两侧分别折弯出两条滑轨，而分体结构可以是先预制出两条滑轨2，然后将两条滑轨分别固定在一平板I两侧，滑轨与平板可采用同一材质或不同材质。所述的滑板3垂直平板I设置，在滑板3两侧底面分别设有一滑块4，该两个滑块分别滑移配装在滑轨底板的两条滑轨2内，故滑板3可在平板I上方作直线往复移动，同时滑板3两侧还分别设有向外延伸的导向块7，可分别配装滑轨2顶面的两条导向条5，起到了滑板3在平板I上方直线运动的导向作用。滑板3中心设有固定连接的手柄6，用于方便操作。所述的滑板底面31为平整度不高于0. 04mm的光滑面，而滑块4与滑轨2相接触的滑块外表面41平整度也不高于0. 04mm，这样提高了滑板3在滑轨底板上运动的灵活性，保证滑块4能在滑轨2内进行长距离方向的自由滑移。所述的滑块4与滑轨2滑移配装到位后，还需保证滑板底面31与平板表面11之间留有距离可调的间隙d，根据该间隙d的大小来调整制备薄膜的厚度，红外光谱检测薄膜的推荐厚度在0. 05、. 15_之间。[0027]所述的滑板底面31与平板表面11的距离可调结构是在滑块4上开设有安装槽，然后将滑板3安装在该安装槽内，滑板可在安装槽内上、下活动，根据实际使用时间隙d的大小不同而将滑板安装在该安装槽内，并由调节螺钉8旋紧连接，从而达到间隙d可调节的目的，故能制备不同厚度的薄膜。该高聚物检测薄膜快速制备装置的滑轨底板、滑板3和滑块4均为熔点不低于500°C的单质金属或合金材质制成，滑板3上的手柄6为熔点不低于500°C的单质金属手柄或合金材质手柄或木质手柄或陶瓷手柄。本实用新型的工作方式如下先使滑板3滑移至滑轨2的顶端，将聚合物样品放置在平板I上，并位于手柄6方向的滑板3后面，然后将该制备装置放入待测高聚物熔融温度下的烘箱中，待高聚物完全熔融后，握持手柄6快速移动滑板3以将熔融后的高聚物平摊在平板表面11，最后冷却至室温即可在平板I上得到高聚物检测薄膜。与其他热压成膜机相比，该高聚物检测薄膜快速制备装置结构简单、操作方便、成本低廉，成膜效率高，使用时无需借助其他辅助设备，而且能长期重复使用，是红外光谱等 高聚物薄膜检测的理想制样装置，它能有效降低工作人员的工作量，提高仪器检测效率，特别适合质监、检验检疫、食品接触、化工等领域的检测实验室进行检测薄膜制备，故推广应用前景巨大。
权利要求1.一种高聚物检测薄膜快速制备装置，包括滑轨底板和滑板(3)，该滑板沿滑轨底板作滑移设置，其特征在于所述的滑轨底板包括一个表面光滑的平板(I )，该平板两侧分别设有平行延伸的滑轨(2 );所述的滑板(3 )安装在平板(I)上方，该滑板底面(31)与平板表面(11)之间留有距离可调的间隙d，滑板(3)两侧分别设有滑块(4)，该两个滑块分别滑移配装在两条滑轨(2)内。
2.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的滑轨(2)横截面呈“L”型。
3.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的间隙d的尺寸范围在O. 05 O. 15mm。
4.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的滑轨(2)深度hi大于滑轨底面与平板表面(11)之间的距离h2。
5.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的平板表面(11)、滑轨内表面(21)和滑板底面(31)的平整度均不高于O. 04mm ;滑块(4)与滑轨(2)相接触的滑块外表面(41)平整度也不高于O. 04mm。
6.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的滑板底面(31)与平板表面(11)的距离可调结构是在两个滑块(4)上设有安装槽，所述的滑板(3)上、下活动设置在该安装槽内，并由调节螺钉(8)旋紧连接。
7.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的两条滑轨(2)长度相等，每条滑轨(2)的长度均大于或等于平板(I)长度。
8.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的两条滑轨(2)顶面均设有导向条(5)，相应在滑板(3)两侧分别设有与导向条作配装的导向块(7)。
9.根据权利要求I所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的滑轨底板、滑板(3)和滑块(4)均为熔点不低于500°C的单质金属或合金材质制成。
10.根据权利要求Γ9任一项所述的高聚物检测薄膜快速制备装置，其特征在于所述的滑板(3)上安装有手柄(6)，该手柄为熔点不低于500°C的单质金属手柄或合金材质手柄或木质手柄或陶瓷手柄。
专利摘要本实用新型公开的是一种高聚物检测薄膜快速制备装置，主要适用于热稳定的热塑性高聚物检测薄膜的制备，也是红外光谱等分析仪器的理想制样装置，可广泛应用于质监、检验检疫、食品接触、化工等领域的检测实验室进行检测薄膜制备，其结构主要是由滑轨底板和滑板等构成，并将滑板通过两个滑块分别滑移配装在滑轨底板的两条滑轨内，这使得滑板能在滑轨底板的平板上方进行直线往复移动，同时滑板底面与平板表面又留有距离可调的间隙d，通过调节间隙d的大小就能达到制备不同厚度薄膜的目的，改进后的结构更为简单，不但操作方便，成本低廉，而且还具有能有效减轻工作人员工作量、缩短薄膜制备时间、提高红外检测效率等优点，故具有较高普及推广价值。
文档编号G01N1/28GK202512008SQ20122014406
公开日2012年10月31日 申请日期2012年4月9日 优先权日2012年4月9日
发明者华正江, 孙君猛, 张樱, 徐善浩, 罗川, 袁丽凤, 黄通人 申请人:宁波出入境检验检疫局检验检疫技术中心