专利名称：一种微小位移放大方法
技术领域：
本发明属于机械形变测量领域，特别涉及一种微小位移放大方法。
背景技术：
传统的弹性形变测量方法主要采用拉伸法，通过测距的方式来测量弹性形变，该方法的缺陷在于。测量工具和测量过程比较复杂，而通过透镜角度的变换和形变成函数关系的特性，可以通过测角度的方式实现测距，从而测量物体的微小形变。
发明内容
本发明的目在于提供一种微小位移放大方法。实现上述目的的技术方案是一种微小位移放大方法，包括聚焦光源、形变物体、·透镜和角度测量仪，其中，形变物体紧靠透镜下方，聚焦光源在透镜正前方。上述的一种微小位移放大方法，其中，所述聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点，透镜可围绕透镜固定点旋转。上述的一种微小位移放大方法，其中，所述透镜固定点到所述形变物体和所述透镜接触点的距离为L，所述形变物体产生应变的应变量为X，形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点，使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度，用所述角度测量仪测量得旋转角度a，tga =X/L，可得形变物体产生应变的应变量X=LXtga。本发明通过测角度的方式实现测距，从而测量物体形变的微小位移，具有工具简单、方法简便的特点。
图I是本发明的结构示意图。
具体实施例方式下面将结合附图对本发明作进一步说明。请参阅图1，图中给出了一种微小位移放大方法，包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪，其中，形变物体紧靠透镜下方，聚焦光源在透镜正前方，聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点，透镜可围绕透镜固定点旋转。透镜固定点到形变物体和透镜接触点的距离为L=IOcm,所述形变物体产生应变的应变量为X，形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点，使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度，用所述角度测量仪测量得旋转角度a =2°，tga=X/L，可得形变物体产生应变的应变量X=LXtga =0. 3cm。以上结合附图实施例对本发明进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根据上述说明对本发明做出种种变化例。因而，实施例中的某些细节不应构成对本发明的限定，本发明将以所附权利要求书界定的范围作为本发明的保护范围。
权利要求
1.一种微小位移放大方法，其特征在于，包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪，其中，形变物体紧靠透镜下方，聚焦光源在透镜正前方。
2.根据权利要求I所述的一种微小位移放大方法，其特征在于，所述聚焦光源发射的光束照射到透镜上的透射点为透镜固定点，透镜可围绕透镜固定点旋转。
3.根据权利要求I所述的一种微小位移放大方法，其特征在于，所述透镜固定点到所述形变物体和所述透镜接触点的距离为L，所述形变物体产生应变的应变量为X，形变产生作用力于所述形变物体和所述透镜接触点，使得所述透镜围绕透镜固定点旋转角度，用所述角度测量仪测量得旋转角度a，tga =X/L，可得形变物体产生应变的应变量X=LXtga。
全文摘要
本发明公开了一种微小位移放大方法，包括聚焦光源、形变物体、透镜和角度测量仪，利用测量形变物体对透镜产生位移，透镜角度的变换使得穿过透镜的光线折射角度发生变换，通过角度的变化来测量形变的微小位移。本发明通过测角度的方式实现测距，从而测量物体形变的微小位移，具有工具简单、方法简便的特点。
文档编号G01B11/16GK102927927SQ201210488679
公开日2013年2月13日 申请日期2012年11月26日 优先权日2012年11月26日
发明者于星光 申请人:昆山北极光电子科技有限公司
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