一种脉冲涡流缺陷检测系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于：包括激励信号产生电路、探头电路、信号调理电路以及PC终端，所述探头电路包括激励线圈、磁传感器以及磁芯构成，激励信号产生电路将产生的波形信号发送给探头电路的激励线圈，波形信号在经探头电路的磁传感器经信号调理电路发送给PC终端，信号调理电路与PC终端之间通过数据采集芯片进行信号交互。本实用新型不但有效解决了传统无损检测方法，检测效率低下、步骤繁琐的问题，而且还有效解决了传统无损检测，检测精度差的问题。
【专利说明】一种脉冲涡流缺陷检测系统
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及无损检测设备【技术领域】，具体涉及一种脉冲涡流缺陷检测系统。【背景技术】
[0002]无损检测(NDT)技术是衡量一个国家基础工业是否先进的一个不可或缺的因素，是现代工业产品制造和使用过程中不可缺少的测试技术。随着现代工业和科学技术的发展，对材料和产品的检测提出了更高的要求，同时也为无损检测技术的发展提供了更加完善的理论和新的物质基础。
[0003]目前常用的无损检测方法有以下几种:
[0004]1、超声检测
[0005]超声检测利用的是超声波在介质中传播的特点来进行检测的。但这项技术对操作者的要求较高，对于一个很大的检测，一次只能检测很小的一部分。
[0006]2、射线检测
[0007]射线的种类很多，X射线、t射线等。选择什么样的射线取决于待测材料的厚度。但射线对人体有害，因此操作者除/必须懂得操作规程外，还应有有效的保护措施。
[0008]3、磁粉检测
[0009]磁粉检测的原理是利用损伤会改变磁力线的分布情况，从而呈现材料的缺陷。但是随着损伤的深度和类型的变化，其有效性会受到极大的影响，值得注意的是试样表面的不平和划痕也会对磁力线的走向产生影响，因而，在应用这种方法时，应先对表面进行处理。
[0010]4、渗透检测
[0011]渗透检测采用渗透剂渗入工件表面缺陷，在清除工件表面的渗透剂后，从缺陷渗入的渗透剂能显示缺陷的位置、形状和大小。但是检测前必须清洁工件，以消除渗透油和显影液的污染。
[0012]综上所述，传统的检测方法都存在一定的弊端。
【发明内容】
[0013]本实用新型要解决的技术问题是提供一种脉冲涡流缺陷检测系统，本实用新型不但有效解决了传统无损检测方法，检测效率低下、步骤繁琐的问题，而且还有效解决了传统无损检测，检测精度差的问题。
[0014]本实用新型通过以下技术方案实现:
[0015]一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于:包括激励信号产生电路、探头电路、信号调理电路以及PC终端，所述探头电路包括激励线圈、磁传感器以及磁芯构成，激励信号产生电路将产生的波形信号发送给探头电路的激励线圈，波形信号在经探头电路的磁传感器经信号调理电路发送给PC终端，信号调理电路与PC终端之间通过数据采集芯片进行信号交互。[0016]本实用新型进一步技术改进方案是:
[0017]所述激励信号产生电路采用YB-1602函数发生器。
[0018]本实用新型进一步技术改进方案是:
[0019]所述探头电路的采用HALL传感器。
[0020]本实用新型进一步技术改进方案是:
[0021]所述信号调理电路包括功率放大�？�、信号放大�？�,功率放大�？椴捎肔PA05B功率放大器，信号放大�？椴捎肐NA129芯片。
[0022]本实用新型进一步技术改进方案是:
[0023]所述数据采集芯片采用DAQ2010数据采集卡。
[0024]本实用新型与现有技术相比，具有以下明显优点，本实用新型根据电磁感应原理，导电材料在交变磁场作用下将产生涡流，导电材料的表面层和近表面层的缺陷会影响产生涡流的大小和分布。当激励线圈移到金属物的表面，涡流就导入试样中，这种由电流所建立起来的磁场刚好与原磁场的方向相反。由于损伤的存在以及材料内部的缺陷，涡流必将发生畸变，激励线圈的阻抗将因此而发生变化，通过仪器测量阻抗的变化，进一步分析并研究材料的缺陷和损伤，本实用新型可以实现缺陷定量检测、数据采集速度快、响应信号便于解释、设备造价低和穿透更深等优点。
【专利附图】
【附图说明】
[0025]图1为本实用新型的原理框图；
[0026]图2为本实用新型探头电路的结构示意图。
【具体实施方式】
[0027]如图1、2所示，本实用新型包括激励信号产生电路、探头电路、信号调理电路以及PC终端，所述探头电路包括激励线圈、磁传感器以及磁芯构成，激励信号产生电路将产生的波形信号发送给探头电路的激励线圈，波形信号在经探头电路的磁传感器经信号调理电路发送给PC终端，信号调理电路与PC终端之间通过数据采集芯片进行信号交互，激励信号产生电路采用YB-1602函数发生器，探头电路的采用HALL传感器，信号调理电路包括功率放大模块、信号放大�？椋β史糯竽？椴捎肔PA05B功率放大器，信号放大�？椴捎肐NA129芯片，数据采集芯片采用DAQ2010数据采集卡。
[0028]结合图1、2简述本实用新型的工作过程:
[0029]检测探头电路的激励线圈上加上一定占空比的脉冲激励信号，脉冲激励信号通过函数发生器产生，当载有脉冲电信号的激励线圈接近导电材料或试件时，在试件中感应产生瞬变的涡流和再生磁�。彩蔽辛鞯拇笮�、衰减状况与试件的电磁特性、几何形状、缺陷特征及耦合状况相关，HALL传感器接收到的涡流再生磁场包含有被检测对象导电率、磁导率及形状尺寸缺陷等的相关信息，然后将HALL传感器得到的检测信号通过信号调理电路进行功率放大和信号放大，最后通过DAQ2010数据采集卡进行采集，输入计算机中，并根据最终的输出信号可实现对被测试件缺陷大小、位置、深度的判别。
[0030]本实用新型未涉及部分均与现有技术相同或可采用现有技术加以实现。
【权利要求】
1.一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于:包括激励信号产生电路、探头电路、信号调理电路以及PC终端，所述探头电路包括激励线圈、磁传感器以及磁芯构成，激励信号产生电路将产生的波形信号发送给探头电路的激励线圈，波形信号在经探头电路的磁传感器经信号调理电路发送给PC终端，信号调理电路与PC终端之间通过数据采集芯片进行信号交互。
2.根据权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于:所述激励信号产生电路采用YB-1602函数发生器。
3.根据权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于:所述探头电路的采用HALL传感器。
4.根据权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于:所述信号调理电路包括功率放大�？�、信号放大�？椋β史糯竽？椴捎肔PA05B功率放大器，信号放大�？椴捎肐NA129芯片。
5.根据权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷检测系统，其特征在于:所述数据采集芯片采用DAQ2010数据采集卡。
【文档编号】G01N27/90GK203643399SQ201420021529
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2014年1月14日 优先权日:2014年1月14日
【发明者】魏东旭, 曹凤莲, 孙红兵 申请人:淮阴师范学院
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