专利名称：一种用于微量分光光度计的取样测量装置及其使用方法
技术领域：
本发明属于分光光度计领域，尤其涉及一种微量分光光度计。
背景技术：
分光光度法是常用的生化测试方法之一，广泛应用于糖、核酸、酶或者蛋白等样品的快速定量检测；分光光度法的测试仪器为分光光度计，传统设备中放置检测样品的容器为比色皿，但是比色皿的内容量较大，所以对待检样品进行分光光度检测时，一方面需要耗费较大量的待检样品，造成珍贵的核酸、蛋白等样品的浪费，另一方面在进行不同待检样品的检测时，还需要反复清洗比色皿，给实验工作带来很多额外工作量。微量分光光度计的出现有效地解决了上述技术问题，在使用微量分光光度计对样品进行检测时，其主要利用微量液体的张力牵引形成光通路，所以只需要很微量的待检样品即可以获得准确的检测数据，从而可以完全替代比色皿，极具创新性和实用性。自从首款微量分光光度计面世以来，受到全球分子生物学实验室的一致追捧和好评。现有技术中，微量分光光度计的液体取样一般采用如图6所示的方式，在上下对置且具有一定间隙的上测量平台(30)和下测量平台(32)之间桥接着待测样品(31)，由于待测样品具有一定的表面张力，所以桥接的待测样品不会出现断层，这样设置在上测量平台的投射光纤射出的测量光穿过待测液体样品，并由设置在下测量平台的接收光纤进行接收后进入测量机构进行测量。美国专利US2002154299就公开了一种应用液体表面张力取样的微量分光光度计，其取样机构包括由一个中心轴连接的底座和旋转臂，一个固定于旋转臂的投射光纤座， 一个固定于底座上的接收光纤座，被测样品桥接在所述投射光纤座和所述接收光纤座之间。在旋转臂上还连接设置有顶丝，在所述底座上设置有一个带有活塞的电磁铁，其中，所述活塞的上表面和顶丝的下底面接触。工作时，该技术所述的微量分光光度计通过控制电磁铁的电通断来调节微量分光光度计的光程长度，即翻转旋转臂使投射光纤座与接收光纤座相对时，通过调节顶丝的上下移动调整光程长度为1. 0mm，此时，接通电路对所述电磁铁进行通电，电磁铁通电后在其磁力作用下，顶丝受到向下的吸力，从而推动所述活塞下降， 进而将光程长度调整到0. 2mm。这种微量分光光度计的两个光程长度之间的转换是通过活塞上下移动的精确距离进行控制，通常在出厂之前经过严格的标定，出厂后一般将不再进行变动。在利用上述现有技术中的微量分光光度计对不同待检样品进行测定时，为了获得准确的对比效果，则需要在完全相同的光程长度下进行比对测定。而在实际应用时，经过多次取样后，上下测量平台之间的距离会由于旋转臂的不断打开和闭合以及顶丝的长期使用磨损而产生微量变化，也就是说光度计的光程长度发生变化，此时为保证测量结果准确需要重新调节上、下测量平台之间的距离，而由于上下测量平台之间的距离最多也只有Imm 左右的距离，利用手动技术进行微量调节不仅需要花费很多时间和精力，而且精确度完全没有保障，所以就不可避免地影响实验结果的准确度。如果要在长期使用后仍保证检测准确性，用户就不得不寻求厂家进行出厂设置的恢复。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是现有技术中的微量分光光度计由于长期使用，很容易造成测量时光程长度的微量变化，利用手动调节很难完全对该微量变化进行校正，如果为了保证实验结果的准确度就不得不进行出厂设置的恢复，进而提供一种可自身进行光程长度校正的微量分光光度计。为实现上述目的，本发明提供的微量分光光度计的取样测量机构包括通过中心轴连接在一起的下测量平台和上测量平台，所述上测量平台可沿所述中心轴转动打开；在所述上测量平台上固定设置有投射光纤座，在所述下测量平台上设置有接收光纤座，所述投射光纤座以及所述接收光纤座分别与光纤相连接；所述上测量平台闭合时，所述投射光纤座以及所述接收光纤座上下对正，形成容纳待检样品的样品槽；在所述上测量平台上，垂直于所述上测量平台纵向贯通设置有第一顶丝，在所述下测量平台上与所述第一顶丝相对应的位置纵向设置有可沿纵向上下移动的升降座，和套设在所述升降座外的磁缸；所述上测量平台闭合时，所述第一顶丝的底端和所述升降座的顶端相接触；
所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座相连接的检测单元，所述检测单元包括光电转换模块、数据接收�？�、检测计算模块、数值校正�？�、光程长度选择�？楹图觳馐菔涑瞿？椋凰龉獾缱荒？楹退鼋邮展庀俗ü庹は嗔樱龉獾缱荒？楹退鍪萁邮漳？橄嗔樱獾缱缓蟮牡缧藕攀淙胫了鍪萁邮漳？椋凰鍪萁邮漳？榛狗直鸷退黾觳饧扑隳？�、数值校正模块以及光程长度选择�？橄嗔樱黾觳饧扑隳？榻邮账鍪萁邮漳？槭涑龅募觳馐莶⒍云浣屑扑悖鍪敌Ｕ？橛胨黾觳饧扑隳？榱樱鍪敌Ｕ？榻邮账黾觳饧扑隳？槭涑龅募扑憬峁⒍愿媒峁斜榷匀范ㄐＵ凳⒔眯Ｕ凳淙胫了鍪萁邮漳？椋觳饧扑隳？楦萑范ǖ男Ｕ凳形庵导扑悖凰龉獬坛ざ妊≡衲？橛胨黾觳饧扑隳？榱樱龉獬坛ざ妊≡衲？榻邮账黾觳饧扑隳？槭涑龅募扑憬峁⒍愿媒峁斜榷匀范ü獬坛ざ龋⒔≡竦墓獬坛ざ仁淙胫了鍪萁邮漳？椋觳饧扑隳？樵俑菹嘤λ龉獬坛ざ冉屑扑悖凰黾觳馐菔涑瞿？榻黾觳饧扑隳？榧扑愕玫降募觳馐凳涑�。在所述上测量平台上，垂直于所述上测量平台还纵向贯通设置有第二顶丝，相对于所述上测量平台朝向所述下测量平台的一端，所述第一顶丝的底端低于所述第二顶丝的底端。在所述升降座的底部设置有可朝向所述升降座施加偏压力的偏压力部件，所述偏压力部件的另一端与所述磁缸内部的底端相抵触。所述磁缸得电时，得到最小光程长度；所述磁缸失电时，得到最大光程长度；所述最小光程长度为0. 2mm，最大光程长度为1. 0mm。在所述上测量平台关闭时，在所述上测量平台和所述下测量平台相对的两个平面的对应位置处分别开设凹槽，在所述凹槽内部放置磁铁，通过所述磁铁的磁力实现对所述上测量平台和所述下测量平台的锁定。所述检测单元还包括光程长度选择�？椋糜谂卸洗煅返呐ǘ却笮∫跃龆ù煅返墓獬坛ざ�。
所述光电转换�？槲獾缣讲馄�。本发明同时提供一种上述用于微量分光光度计的取样测量装置的使用方法，其包括以下步骤
(1)翻转并关闭所述上测量平台，使其与所述下测量平台上下对正，对空白样品进行测量，测量得到入射光强Itl;
(2)翻转并打开所述上测量平台，将微量标准溶液滴加到所述下测量平台上的接收光纤座或投射光纤座的上表面上，关闭所述上测量平台使其与下测量平台上下对正，被测标准溶液桥接于所述投射光纤座和所述接收光纤座之间；
(3)通过调节所述第一顶丝，使所述投射光纤座与所述接收光纤座之间的距离接近最大光程长度；对所述磁缸进行通电，在所述磁缸的磁力作用下，所述第一顶丝下压所述升降座，达到平衡时，使得所述投射光纤座与所述接收光纤座之间的距离接近最小光程长度；
(4)上述距离调节完毕后，所述光栅对所述接收光纤座内光纤接收到合成光信号进行分光，将不同波长的光信号分成单色光，所述光电转换�？榻邮账龅ド獠⒎直鸾涔馇恐礗转化为电信号，所述数据接收�？榻邮丈鲜龅缧藕挪⒍运龅缧藕沤写恚⒔龃砗蟮男藕糯渲了黾觳饧扑隳？椋谒黾觳饧扑隳？楦葑缓蟮谋徊庋饭馇恐礗以及空白光强值Itl得到吸光值A=-Ig(IAtl),最后将计算得到的吸光值输入至所述数值校正�？椋谒鍪敌Ｕ？槟冢鍪敌Ｕ？榈饔帽曜既芤旱谋曜嘉庵� Ab进行比对，得到校正系数X=Ab/A，并将校正系数存入数据接收�？楹螅Ｕ崾�
(5)打开所述上测量平台，对所述投射光纤座和所述接收光纤座进行清洗，清洗晾干后取微量待检样品滴加到所述下测量平台上的接收光纤座或投射光纤座的上表面上，关闭所述上测量平台使其与下测量平台上下对正，使待检样品桥接于所述投射光纤座和所述接收光纤座之间；
(6)使磁缸得电，得到最小光程长度，所述接收光纤座内的光纤将光信号传输至所述光栅，将合成光信号分成不同波长的单色光信号，所述光电转换�？榻邮账龅ド獠⒎直鸾涔馇恐礗转化为电信号，所述数据接收�？榻邮丈鲜龅缧藕挪⒍运龅缧藕沤写恚⒔龃砗蟮男藕糯渲了黾觳饧扑隳？椋谒黾觳饧扑隳？榈饔盟鍪萁邮漳？槟诘淖钚」獬坛ざ鹊男Ｕ凳齒，并对所述处理后的信号进行计算得到吸光值 A=-Ig (I/I0)*X,以及浓度值C= &/E1，将测得的吸光值A传送到所述光程长度选择�？楹螅� 与吸光度阈值Ay进行比较；
(7)测得吸光值A大于所述吸光度阈值Ay时，所述检测数据输出�？槭涑霾饬课庵狄约芭ǘ戎迪允靖没В徊獾梦庵敌∮谒鑫舛茹兄礎y时，磁缸失电，得到最大光程长度后，经过光电转换�？�、数据接收�？椤⒓觳饧扑隳？楹螅倬觳馐菔涑瞿？榻饬课庵狄约芭ǘ戎迪允靖没�。在所述步骤(2)中，关闭所述上测量平台使其与下测量平台上下对正后，利用磁铁将所述上测量平台和所述下测量平台进行锁定。上述步骤(3)所述的最大光程长度为1mm，最小光程长度为0. 2mm。步骤(3)中，在所述磁缸得电的情况下，所述上测量平台下移，通过调节所述第二顶丝，使所述投射光纤座与所述接收光纤座之间的距离接近最小光程长度。本发明具有如下优点本发明加入了带有数值校正�？榈娜⊙饬孔爸茫ü敌Ｕ？榈玫讲煌獬坛ざ刃Ｕ凳螅源煅凡饬渴奔尤氪诵Ｕ凳迪至宋⒘糠止夤舛燃撇饬恐档淖远Ｕ岣吡宋⒘糠止夤舛燃撇饬康淖既范�。整个过程通过各个�？樽远迪郑褂τ酶梦⒘糠止夤舛燃频钠胀ㄊ褂谜叻奖憬械鹘�。与现有技术中的微量分光光度计没有校正环节，通过出厂精确设定相比，方便了使用者的使用，同时保证了测量精度。另外，该微量分光光度计的取样测量装置的上测量平台上设置有两个顶丝通过电磁铁的通断和调节两个顶丝伸出上测量平台下端的长度调节两个不同光程长度；与对比文件的微量分光光度计通过一个顶丝和电磁铁的通断对两个不同光程长度进行调节相比，大大降低了电磁铁的升降精度要求，降低了制造成本。同时，该取样测量装置选用0.2mm和 1. Omm两种光程长度进行测量，对于浓度大的待检样品光程长度选用1mm，浓度小的待检样品光程长度选用0. 2mm，保证浓度值差异较大的糖、核酸、酶或者蛋白等样品的测量值的准确度。
为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面根据本发明的具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
图1为本发明的用于微量分光光度计的取样测量装置结构示意图； 图2为包括两个顶丝的取样测量装置结构示意图； 图3为本发明检测单元的结构框图4-1为本发明一个顶丝的情况下最大光程长度下的工作状态图； 图4-2为本发明一个顶丝的情况下最小光程长度下的工作状态图； 图5-1为本发明两个顶丝的情况下最大光程长度下的工作状态图； 图5-2为本发明两个顶丝的情况下最小光程长度下的工作状态图； 图6为微量液体试料的保持方法说明图； 图7为本发明的校正流程图； 图8为本发明的测量流程图。图中附图标记表示为
1-第一顶丝 2-第二顶丝 3-投射光纤座 4-上测量平台 5-下测量平台 6-接收光纤座7-升降座8-弹簧 9-电磁铁磁缸10-磁铁 11-中心轴 20-检测单位30-上测量平台31-被测样品32-下测量平台。
具体实施例方式以下将结合附图，使用以下实施例对本发明进行进一步阐述。实施例1
图1所示为本发明的取样测量装置的结构示意图，包括由中心轴11连接的上测量平台 4和下测量平台5，所述上测量平台4可沿所述中心轴11转动打开；一个固定于上测量平台 4的投射光纤座3，一个固定于下测量平台5的接收光纤座6，投射光纤座3与接收光纤座6 内部插有光纤，所述上测量平台4闭合时，在上测量平台4和下测量平台5平行，上下对正； 在投射光纤座3与接收光纤座6之间形成容纳待检样品的样品槽。
在所述上测量平台4上，垂直于所述上测量平台4纵向贯通设置有第一顶丝1，在所述下测量平台5上与所述第一顶丝1相对应的位置纵向设置有可沿纵向上下移动的升降座7，和套设在所述升降座7外的电磁铁磁缸9 ；所述上测量平台4闭合时，所述第一顶丝1 的底端和所述升降座7的顶端相接触。所述电磁铁磁缸9和升降座7之间有弹簧8，电磁铁磁缸9没有通电时通过弹簧8 将升降座7顶在与下测量平台5上表面平齐的位置，通电后电磁铁磁缸9将升降座7吸下。 作为一种优选的实施方式，本发明的上测量平台4和下测量平台5还可以分别设有一个凹槽，内部放置磁铁10，在上测量平台4和下测量平台5平行放置时，两磁铁上下对正，用于在工作状态下将上测量平台4和下测量平台5锁定。本发明所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座6相连接的检测单元20，如图 3所示。所述检测单元20包括光电转换�？�、数据接收�？�、检测计算�？�、数值校正�？�、 光程长度选择�？楹图觳馐菔涑瞿？椋�
本实施例所述的光电转换�？槲獾缣讲馄鳎龉獾缣讲馄骱退鼋邮展庀俗�6通过光栅相连接，所述光栅通过接收光纤座内光纤传输的合成光信号，将不同波长的光信号分成单色光，光电探测器分别接收单色光并分别将其光强值转化为电信号后，输出至所述数据接收�？椋�
所述数据接收�？榛狗直鸷退黾觳饧扑隳？�、数值校正�？橐约�、光程长度选择�？橄嗔樱黾觳饧扑隳？榻邮账鍪萁邮漳？槭涑龅娜肷涔馇恐涤氤錾涔馇恐刀云浣形庵导扑悖鍪敌Ｕ？橛胨黾觳饧扑隳？榱樱鍪敌Ｕ？榻邮账黾觳饧扑隳？槭涑龅募扑憬峁⒍愿媒峁氡曜嘉庵到斜榷匀范ㄐＵ凳⒔眯Ｕ凳淙胫了鍪萁邮漳？楹蟠娲ⅲ辈饬看馊芤菏保觳饧扑隳？榈饔檬萁邮漳？槟诖娲⒌男Ｕ凳晕庵抵匦陆屑扑悖凰龉獬坛ざ妊≡衲？橛胨黾觳饧扑隳？榱樱龉獬坛ざ妊≡衲？榻邮账黾觳饧扑隳？槭涑龅娜芤何庵到峁胛舛茹兄当冉虾笕范ü獬坛ざ龋刂扑龅绱盘鸥�9的得电与失电，进而选择最小光程或最大光程，同时将选择的光程长度输入至所述数据接收�？楹蟠娲ⅲ觳饧扑隳？楦菹嘤λ龉獬坛ざ冉屑扑阕钪盏贸鏊鲅返奈庵导芭ǘ龋黾觳馐菔涑瞿？榻黾觳饧扑隳？榧扑愕玫降募觳馐凳涑�。图4-1，图4-2为本发明在两个光程长度的工作状态图。图4-1为该装置在最大光程时的工作状态，首先将电磁铁磁缸9失电，升降座7在弹簧8的作用下上升至与下测量平台5的上表面平齐的位置后，通过调节第一顶丝1改变下测量平台5和上测量平台4之间的距离，进而调节最大光程长度；图4-2为该装置在最小光程时的工作状态，首先将电磁铁磁缸9得电，升降座7在电磁铁磁缸9的磁力作用下下降，通过控制电磁铁磁缸9的下降距离改变下测量平台5和上测量平台4之间的距离，进而调节最小光程长度。本实施例中，最大光程长度选用1mm，最小光程长度选用0. 2mm。根据朗伯比尔定律可知，吸光值 A =_lg(I/I0)= ECl
其中I-被测样品投射光强；Itl-入射光强(空白投射光强)；
E-吸光系数(L/mol*Cm) ； C-样品浓度(mol/L) ； 1_光程长度(cm);
通常情况下，标准溶液的吸光值Ab是通过一个Icm光程长度的比色皿测得的。这样，在本发明所述光度计光程长度为0. 2mm或1. Omm的情况下，相对应的加入一个比例系数或10即实现了与传统的吸光值相对应。应用本发明进行吸光值及浓度测量时，首先要对该取样测量装置进行位置校正， 位置校正得到校正系数后，对待测样品进行精确测量。本发明的校正过程和测量过程如图 7和图8所示。本发明的取样测量机构的校正流程如下
首先，翻转上测量平台4使其与下测量平台5上下对正，对空白样品进行测量，通过所述光电转换�？榈玫饺肷涔馇縄tl ；
然后，翻转上测量平台4使其与下测量平台5成90°，将l-2ul标准溶液放置于下测量平台5上的接受光纤座6的上表面后，翻转上测量平台4使其与下测量平台5上下对正，使被测标准溶液桥接于投射光纤座3和接收光纤座6上。若欲得到最大光程Imm的校正系数，首先将电磁铁8失电，升降座7在弹簧的作用下上升至与下测量平台5的上表面平齐的位置后，通过调节第一顶丝的位置使投射光纤座 3与接收光纤座6之间距离接近最大距离Imm;此时由所述光电转换�？榈玫奖徊獗曜既芤旱耐渡涔馇縄1，所述数据接收�？榻邮杖肷涔馇縄tl和投射光强I1的信号后传输至所述检测计算�？榻屑扑悖觳饧扑隳？橛晌庵礎 =-lg(I/I0)同时加入比例系数则可得到此时标准溶液的校正吸光值A1，所述检测计算�？榻Ｕ庵礎1传送至所述数值校正�？椋鍪敌Ｕ？橛氡曜嘉庵礎b比较后得到校正系数A=AbA1,并将校正系数&存入数据接收模块中，校正结束；
若欲得到最小光程长度0. 2mm的校正系数，首先将电磁铁8通电，控制电磁铁8的移动距离，使投射光纤座3与接收光纤座6之间距离接近最小距离0. 2mm ；此时由所述光电转换�？榈玫奖徊獗曜既芤旱耐渡涔馇縄1，所述数据接收�？榻邮杖肷涔馇縄tl和投射光强I1的信号后传输至所述检测计算�？榻屑扑悖觳饧扑隳？橛晌庵礎 =-lg(I/I0)同时加入比例系数则可得到此时标准溶液的校正吸光值Aa2，所述检测计算�？榻Ｕ庵� A1传送至所述数值校正�？椋鍪敌Ｕ？橛氡曜嘉庵礎b比较后得到校正系数Xa2: Ab/A0.2,并将校正系数)(α2存入数据接收�？橹校Ｕ崾�。本发明的测量流程如下
打开所述上测量平台4，对所述投射光纤座3和所述接收光纤座6进行清洁，清洁后取微量待检样品滴加到所述下测量平台5上的接收光纤座6的上表面上，关闭所述上测量平台4使其与下测量平台5上下对正，使待检样品桥接于所述投射光纤座3和所述接收光纤座6之间；通过磁铁10将所述上测量平台4与下测量平台5进行锁定。由于不同溶液浓度的不同，吸光值差异很大，如果样品浓度很小时，用光程长度为 Imm进行测量时，被测样品的投射光强I接近于入射光强Itl,得到的吸光值A =-lg(I/I0)极�。荒艽锏脚斜鹦Ч蝗绻放ǘ群芨呤保霉獬坛ざ任�0. 2mm进行测量时，被测样品的投射光强I接近于0，吸光值A =-lg(I/I0)无限大，也不能达到判别效果；
因此，在所述光程长度选择�？橹猩瓒ㄒ桓隽俳缗ǘ戎档奈舛茹兄郸ˇ茫梦舛茹兄礎y的选取根据具体实验经验值而定，本实施例选取Ay=I，测量时，所述数据接收�？榻徊庋返墓馇恐礗与入射光强Itl输入至所述检测计算模块后，经过检测计算模块计算得到被测样品的吸光值A后，传送至所述光程长度选择模块。
实际测量时，首先使电磁铁磁缸9得电，光程长度转到0. 2mm,当测得被测样品吸光值A>AY时，表明该被测样品浓度适用该光程长度进行测量。此时通过测量空白和被测样品的光强Itl和Ια2，所述检测计算模块调用从数据接收�？榈玫降男Ｕ凳齒1,计算得到被测样品的吸光值Aa2=-Igda2Ac^Xa2,同时可得被测样品浓度值Ca2= Α0.2/Ε1 ；并将吸光值 A1与C1输出至所述检测数据输出�？椋瓿刹饬坎⒔邢允�。当测得被测样品吸光值Α<ΑΥ时，表明该被测样品浓度适用光程长度为Imm进行测量。此时所述光程长度选择�？榉⒊鲋噶钍沟绱盘鸥�9失电，光程长度转到1mm，通过测量空白和被测样品的光强Itl和I1,所述检测计算模块调用从数据接收�？榈玫降男Ｕ凳� X1,计算得到被测样品的吸光值A1=-IgaiAtlRX1,同时可得被测样品浓度值C1= A1ZiEl;并将吸光值A1与C1输出至所述检测数据输出模块，完成测量并进行显示。实施例2
图2所示为设置两个顶丝的取样测量装置的结构示意图，其结构与实施例1所述的结构的区别点在于该取样测量装置还设有第二顶丝2，具体设置位置为在所述上测量平台4 上，垂直于所述上测量平台4还纵向贯通设置有第二顶丝2，相对于所述上测量平台4朝向所述下测量平台5的一端，所述第一顶丝1的底端低于所述第二顶丝2的底端。图5-1，图5-2为本实施例的取样测量装置在两个光程长度的工作状态图。图5-1 为该装置在最大光程时的工作状态，首先将电磁铁磁缸9失电，升降座7在弹簧8的作用下上升至与下测量平台5的上表面平齐的位置后，通过调节第一顶丝1改变下测量平台5和上测量平台4之间的距离，进而调节最大光程长度；图5-2为该装置在最小光程时的工作状态，首先将电磁铁磁缸9得电，升降座7在电磁铁磁缸9的磁力作用下下降，通过调节第二顶丝2改变下测量平台5和上测量平台4之间的距离，进而调节最小光程长度。本实施例中，最大光程长度选用1mm，最小光程长度选用0. 2mm。本实施例通过调节两个顶丝伸出上测量平台下端的长度调节两个不同光程长度， 大大降低了电磁铁的升降精度要求，降低了制造成本。应用本实施例进行吸光值及浓度测量时，同样包括校正和测量两个过程。其流程如图7和图8所示。本实施例的校正流程如图7所示
首先，翻转上测量平台4使其与下测量平台5上下对正，对空白样品进行测量，此时得到入射光强Itl ；
然后，翻转上测量平台4使其与下测量平台5成90°，将l-2ul标准溶液放置于下测量平台5上的接受光纤座6的上表面后，翻转上测量平台4使其与下测量平台5上下对正，使被测标准溶液桥接于投射光纤座3和接收光纤座6上。若欲得到最大光程Imm的校正系数，首先将电磁铁8失电，升降座7在弹簧的作用下上升至与下测量平台5的上表面平齐的位置后，通过调节第一顶丝的位置使投射光纤座 3与接收光纤座6之间距离接近最大距离Imm;此时由所述光电转换�？榈玫奖徊獗曜既芤旱耐渡涔馇縄1，所述数据接收�？榻邮杖肷涔馇縄tl和投射光强I1的信号后传输至所述检测计算�？榻屑扑悖觳饧扑隳？橛晌庵礎 =-lg(I/I0)同时加入比例系数则可得到此时标准溶液的校正吸光值A1，所述检测计算�？榻Ｕ庵礎1传送至所述数值校正模块，所述数值校正模块与标准吸光值Ab比较后得到校正系数A=AbA1,并将校正系数&存入数据接收�？橹校Ｕ崾�
若欲得到最小光程长度0. 2mm的校正系数，首先将电磁铁8通电，升降座7被吸下后， 通过调节第二顶丝2的位置使投射光纤座3与接收光纤座6之间距离接近最小距离0. 2mm ； 此时由所述光电转换�？榈玫奖徊獗曜既芤旱耐渡涔馇縄1，所述数据接收模块接收入射光强Itl和投射光强I1的信号后传输至所述检测计算�？榻屑扑悖觳饧扑隳？橛晌庵礎 =-lg(I/I0)同时加入比例系数则可得到此时标准溶液的校正吸光值Aa2，所述检测计算�？榻Ｕ庵礎1传送至所述数值校正�？椋鍪敌Ｕ？橛氡曜嘉庵礎b比较后得到校正系数Xa2= Ab/Aa2，并将校正系数) α2存入数据接收�？橹校Ｕ崾�。本实施例的测量过程与实施例1的测量过程一致。虽然本发明已经通过具体实施方式
对其进行了详细阐述，但是，本专业普通技术人员应该明白，在此基础上所做出的未超出权利要求保护范围的任何形式和细节的变化， 均属于本发明所要保护的范围。
权利要求
1.一种用于微量分光光度计的取样测量装置，其包括上测量平台(4)和下测量平台(5)，所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5)之间的距离可调；在所述上测量平台(4 )上设置有投射光纤座(3 )或接收光纤座(6 )，在所述下测量平台(5 )上设置有接收光纤座(6 )或投射光纤座(3 )，所述投射光纤座(3 )以及所述接收光纤座(6)分别与光纤相连接；所述投射光纤座(3)以及所述接收光纤座(6)上下对正，用于容纳待检样品；在所述上测量平台(4)上，设置有用于调节所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5) 之间距离的第一顶丝(1 )，在所述下测量平台(5)上与所述第一顶丝(1)相对应的位置设置有可以上下移动的升降座(7)，和套设在所述升降座(7)外与所述下测量平台(5)固定的电磁铁磁缸(9);所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5)上下对正时，所述第一顶丝(1)的底端和所述升降座(7)的顶端相接触；其特征在于所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座(6)相连接的检测单元(20)，所述检测单元(20)包括光电转换�？�、数据接收�？�、检测计算�？�、数值校正�？椤⒐獬坛ざ妊≡衲？楹图觳馐菔涑瞿？椋凰龉獾缱荒？楹退鼋邮展庀俗�(6)通过光栅相连接，所述光电转换�？楹退鍪萁邮漳？橄嗔樱獾缱缓蟮牡缧藕攀淙胫了鍪萁邮漳？椋凰鍪萁邮漳？榛狗直鸷退黾觳饧扑隳？�、数值校正�？橐约肮獬坛ざ妊≡衲？橄嗔樱黾觳饧扑隳？榻邮账鍪萁邮漳？槭涑龅募觳馐莶⒍云浣屑扑悖鍪敌Ｕ？橛胨黾觳饧扑隳？榱樱鍪敌Ｕ？榻邮账黾觳饧扑隳？槭涑龅募扑憬峁⒍愿媒峁斜榷匀范ㄐＵ凳⒔眯Ｕ凳淙胫了鍪萁邮漳？椋� 检测计算�？楦萑范ǖ男Ｕ凳形庵导扑悖凰龉獬坛ざ妊≡衲？橛胨黾觳饧扑隳？榱樱龉獬坛ざ妊≡衲？榻邮账黾觳饧扑隳？槭涑龅募扑憬峁⒍愿媒峁斜榷匀范ü獬坛ざ龋⒔≡竦墓獬坛ざ仁淙胫了鍪萁邮漳？椋觳饧扑隳？樵俑菹嘤λ龉獬坛ざ冉屑扑悖凰黾觳馐菔涑瞿？榻黾觳饧扑隳？榧扑愕玫降募觳馐凳涑�。
2.根据权利要求1所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于在所述上测量平台(4)上，垂直于所述上测量平台(4)还纵向贯通设置有第二顶丝 (2)，相对于所述上测量平台(4)朝向所述下测量平台(5)的一端，所述第一顶丝(1)的底端低于所述第二顶丝(2)的底端。
3.根据权利要求1或2所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于所述上测量平台(4)与所述下测量平台(5)通过中心轴(11)连接，所述上测量平台(4) 可沿所述中心轴(11)转动打开。
4.根据权利要求3所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于在所述升降座(7)的底部设置有可朝向所述升降座(7)施加偏压力的偏压力部件(8)，所述偏压力部件(8)的另一端与所述电磁铁磁缸(9)内部的底端相抵触。
5.根据权利要求4所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于所述电磁铁磁缸(9)得电时，得到最小光程长度；所述电磁铁磁缸(9)失电时，得到最大光程长度。
6.根据权利要求5所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于 所述最小光程长度为0. 2mm，最大光程长度为1. 0mm。
7.根据权利要求1或2或4或5或6所述的用于微量分光光度计的取样测量装置，其特征在于在所述上测量平台(4)关闭时，在所述上测量平台(4)和所述下测量平台(5)相对的两个平面的对应位置处分别开设凹槽，在所述凹槽内部放置磁铁(10)，通过所述磁铁(10)的磁力实现对所述上测量平台(4)和所述下测量平台(5)的锁定。
8.根据权利要求1-7任一所述的取样测量装置，其特征在于 所述光电转换�？槲獾缣讲馄�。
9.权利要求1所述用于微量分光光度计的取样测量装置的使用方法，包括以下步骤 调节上测量平台(4)，使其与所述下测量平台(5)上下对正，对空白样品进行测量，测量得到入射光强I。；将微量标准溶液滴加到所述下测量平台(5)上的接收光纤座(6)或投射光纤座(3)的上表面上，调节所述上测量平台(4)使其与下测量平台(5)上下对正，使被测标准溶液桥接于所述投射光纤座(3)和所述接收光纤座(6)之间；通过调节所述第一顶丝，使所述投射光纤座(3)与所述接收光纤座(6)之间的距离接近最大光程长度；对所述电磁铁磁缸(9)进行通电，在电磁铁的磁力作用下，所述第一顶丝 (1)下压所述升降座(7)，达到平衡时，使得所述投射光纤座(3)与所述接收光纤座(6)之间的距离接近最小光程长度；上述距离调节完毕后，所述光栅对所述接收光纤座内光纤接收到合成光信号进行分光，将不同波长的光信号分成单色光，所述光电转换�？榻邮账龅ド獠⒎直鸾涔馇恐礗转化为电信号，所述数据接收�？榻邮丈鲜龅缧藕挪⒍运龅缧藕沤写恚⒔龃砗蟮男藕糯渲了黾觳饧扑隳？椋谒黾觳饧扑隳？楦葑缓蟮谋徊庋饭馇恐礗以及空白光强值Itl得到吸光值A=-Ig (IAtl)，最后将计算得到的吸光值输入至所述数值校正�？椋谒鍪敌Ｕ？槟冢鍪敌Ｕ？榈饔帽曜既芤旱谋曜嘉庵礎b进行比对，得到校正系数X=Ab/A，并将校正系数存入数据接收�？楹螅Ｕ崾欢运鐾渡涔庀俗�(3)和所述接收光纤座(6)进行清洁，清洁后取微量待检样品滴加到所述下测量平台(5 )上的接收光纤座(6 )或投射光纤座(3 )的上表面上，调节所述上测量平台(4)使其与下测量平台(5)上下对正，使待检样品桥接于所述投射光纤座(3)和所述接收光纤座(6)之间；使电磁铁磁缸(9)得电，得到最小光程长度，所述接收光纤座(6)内的光纤将光信号传输至所述光栅，将合成光信号分成不同波长的单色光信号，所述光电转换�？榻邮账龅ド獠⒎直鸾涔馇恐礗转化为电信号，所述数据接收�？榻邮丈鲜龅缧藕挪⒍运龅缧藕沤写恚⒔龃砗蟮男藕糯渲了黾觳饧扑隳？椋谒黾觳饧扑隳？榈饔盟鍪萁邮漳？槟诘淖钚」獬坛ざ鹊男Ｕ凳齒，并对所述处理后的信号进行计算得到吸光值A=-Ig (1/%) *X，以及浓度值C= AcZEl，将测得的吸光值A传送到所述光程长度选择�？楹螅胛舛茹兄礎y进行比较；测得吸光值A大于所述吸光度阈值Ay时，所述检测数据输出�？槭涑霾饬课庵狄约芭ǘ戎迪允靖没В徊獾梦庵敌∮谒鑫舛茹兄礎y时，电磁铁磁缸(9)失电，得到最大光程长度后，经过光电转换模块、数据接收�？�、检测计算�？楹螅倬觳馐菔涑瞿？榻饬课庵狄约芭ǘ戎迪允靖没�。
10.根据权利要求9所述的用于微量分光光度计的取样测量装置的使用方法，其特征在于在所述步骤(2)中，所述上测量平台(4)与下测量平台(5)上下对正后，利用磁铁(10) 将所述上测量平台(4)和所述下测量平台(5)进行锁定。
11.根据权利要求9所述的用于微量分光光度计的取样测量装置的使用方法，其特征在于步骤(3)所述的最大光程长度为1mm，最小光程长度为0. 2mm。
12.根据权利要求9所述的用于微量分光光度计的取样测量装置的使用方法，其特征在于在所述步骤(3 )中，在所述电磁铁磁缸(9 )得电的情况下，所述上测量平台(3 )下移，通过调节所述第二顶丝(2)，使所述投射光纤座(3)与所述接收光纤座(6)之间的距离接近最小光程长度。
全文摘要
本发明公开一种用于微量分光光度计的取样测量装置，属于微量分光光度计领域。其包括距离可调的上测量平台与下测量平台；上测量平台上设置有投射光纤座或接收光纤座，下测量平台上设置有接收光纤座或投射光纤座，所述投射光纤座以及接收光纤座上下对正且内部插有光纤；上测量平台上设置有第一顶丝，下测量平台上与所述第一顶丝相对应的位置设置有可以上下移动的升降座，和套设在所述升降座外与所述下测量平台固定的电磁铁磁缸；所述取样测量装置还包括与所述接收光纤座相连接的检测单元，所述检测单元包括光电转换�？椤⑹萁邮漳？椤⒓觳饧扑隳？�、数值校正模块、光程长度选择�？楹图觳馐菔涑瞿？椤１痉⒚魍ü尤胧敌Ｕ？槎怨獬坛ざ冉行Ｕ梢允蛊胀ㄊ褂谜咴诓挥镁返髡獬坛ざ鹊那榭鱿率迪志凡饬�。
文档编号G01N21/31GK102207456SQ20111006609
公开日2011年10月5日 申请日期2011年3月18日 优先权日2011年3月18日
发明者赵景琪 申请人:赵景琪
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