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专利名称：光电式引张线坐标仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于大坝水平位移监测的光电式引张线坐标仪，属于位 移测量仪器技术领域。
背景技术：
光电式引张线坐标仪是一种监测大坝水平位移的基本测量仪器。目前，光电 式引张线坐标仪的组成包括装在密封壳体中的光源、透光平镜、滤光镜、电荷耦 合器件CCD，引张线置于壳体的开口槽中，透光平镜与滤光镜分别位于开口槽 两侧平行相向的透光窗口上，光源垂直于透光平镜安装，测量时，光源发出的平 行光直接通过透光平镜垂直地照射到引张线线体上，再通过滤光镜，将含有引张 线线体位置信息的光路投影到CCD上，对CCD采集的信号进行数据分析，就可以 得到引张线线体的位置，并计算出引张线的相对位移。现有的光电式引张线坐标 仪存在着如下的缺陷由于光源与引张线相垂直，且光源体积较大，使得整个引 张线坐标仪的体积较大，安装非常不方便，而对于安装于大坝顶面的引张线系统， 由于场地的限制，对于体积较大的引张线坐标仪甚至不能安装。 发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种光路改进的光电式引张线坐标 仪，以便有效縮小坐标仪的体积，便于现场安装。
本实用新型解决其技术问题的技术方案如下 一种光电式引张线坐标仪，其 组成包括装在密封壳体中的光源、透光平镜、滤光镜、电荷耦合器件CCD，引 张线置于壳体的开口槽中，透光平镜与滤光镜分别位于开口槽两侧平行相向的透 光窗口上，其特征是光源平行于透光平镜安装，在光源前方具有一个与光源的光 轴夹角为45°的反光平镜，并使透光平镜的中心线与光源光轴的交点位于该反 光平镜的中心。
本实用新型解决其技术问题的进一步技术方案如下在所述的透光平镜、滤 光镜上分别安装有加热片。本实用新型的有益效果如下光源平行于透光平镜安装，充分利用密封壳体 中有限的空间来安装体积较大的光源，增加了反射平镜，光路有所改变而测量原 理不变，实现有效縮小坐标仪体积的目的，便于现场安装，保证了坐标仪的密封 性。测量时，光源发出的平行光先通过反光平镜反射给透光平镜，又通过透光平 镜垂直地照射到引张线线体上，再通过滤光镜，将含有引张线线体位置信息的光
路投影到CCD上。

图1为本实用新型光电式引张线坐标仪整体结构剖视图。
具体实施方式

下面参照附图并结合实施例对本实用新型作进一步的详细描述。 如图1所示，本实用新型光电式引张线坐标仪的组成包括装在密封壳体1中 的光源IO、透光平镜3、滤光镜5、电荷耦合器件(CCD) 4，引张线8置于壳 体的开口槽7中，透光平镜3与滤光镜5分别位于开口槽两侧平行相向的透光窗 口ll、 12上，光源10平行于透光平镜3安装，在光源10前方具有一个与光源 的光轴夹角为45°的反光平镜2,并使透光平镜3的中心线与光源10光轴的交 点位于反光平镜的中心。图l中6为变压器，9为电缆接头。
为了防止水汽在透光窗口 11、 12的透光平镜3、滤光镜5上聚积起雾，本实 用新型进一步的特征是如图1所示，分别在透光平镜3、滤光镜5上安装有加 热片31、 51，这种措施使仪器在很潮湿的环境下能够进行正常的测量，镜片不 会发霉。
权利要求1、光电式引张线坐标仪，其组成包括装在密封壳体中的光源、透光平镜、滤光镜、电荷耦合器件CCD，引张线置于壳体的开口槽中，透光平镜与滤光镜分别位于开口槽两侧平行相向的透光窗口上，其特征是光源平行于透光平镜安装，在光源前方具有一个与光源的光轴夹角为45°的反光平镜，并使透光平镜的中心线与光源光轴的交点位于该反光平镜的中心。
2、根据权利要求1所述的光电式引张线坐标仪，其特征是在所述的透光平镜、 滤光镜上分别安装有加热片。
专利摘要光电式引张线坐标仪的组成包括装在密封壳体中的光源、透光平镜、滤光镜、电荷耦合器件CCD，引张线置于壳体的开口槽中，透光平镜与滤光镜分别位于开口槽两侧平行相向的透光窗口上，光源平行于透光平镜安装，在光源前方具有一个与光源的光轴夹角为45°的反光平镜，并使透光平镜的中心线与光源光轴的交点位于该反光平镜的中心。光源平行于透光平镜安装，充分利用密封壳体中有限的空间来安装体积较大的光源，增加了反射平镜，光路有所改变而测量原理不变，实现有效缩小坐标仪体积的目的，便于现场安装，保证了坐标仪的密封性。
文档编号G01B11/03GK201269747SQ20082018523
公开日2009年7月8日 申请日期2008年8月27日 优先权日2008年8月27日
发明者刘广林, 卢欣春, 彦 蓝, 邹念椿 申请人:南京南瑞集团公司;国网电力科学研究院