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专利名称：背光模拟治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及背光源技术领域，尤其涉及一种背光模拟治具。
背景技术：
直下式背光源的结构参数，如混光高度、光源间距等是显示器中的重要技术指标。目前，现有技术是通过计算机的光学软件模拟背光源的状态来测量背光源的结构参数。然而，通过计算机软件模拟出的背光源状态与实际的背光源状态会有一定的偏差，无法准确测量实际的背光源结构参数。·
实用新型内容本实用新型的实施例提供一种背光模拟治具，实现通过实际部件来模拟背光源状态，进而使得测量背光源的结构参数的结果更加准确。为解决上述技术问题，本实用新型的实施例采用如下技术方案一种背光模拟治具，其特征在于，包括底部反射片；设置于所述底部反射片上方的多个可移动光源；设置于所述光源上方的可移动光学膜材，所述光学膜材用于将所述多个光源转化为面光源；设置于所述光学膜材上方的光学测量仪，所述光学测量仪用于测量所述光学膜材的出光均匀度和/或亮度。具体地，每个所述光源为线光源或点光源。进一步地，上述的背光模拟治具，还包括用于测量所述反射片、光源和光学膜材三者中任意两者之间距离的高度测量尺；用于测量两个相邻所述光源之间距离的水平测量尺。具体地，所述高度测量尺为用于支撑所述光学膜材的支撑柱，所述支撑柱上设置有刻度。具体地，每个所述光源上设置有用于使所述光源移动的光源高度调节装置和水平调节装置；所述光学膜材上设置有用于使所述光学膜材垂直移动的膜材高度调节装置。进一步地，还包括用于支撑所述反射片的底部支撑板。本实用新型实施例中的背光模拟治具，与现有技术通过计算机的光学软件模拟背光源的状态相比，由于通过实际部件来模拟背光源状态，避免了计算机软件模拟出的背光源状态与实际的背光源状态之间的偏差，进而使得测量背光源的结构参数的结果更加准确。

[0019]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I为本实用新型实施例中一种背光模拟治具的结构示意图；图2为本实用新型实施例中另一种背光模拟治具的结构示意图；图3为本实用新型实施例中另一种背光模拟治具的结构示意图；图4为本实用新型实施例中另一种背光模拟治具的结构示意图；图5为本实用新型实施例中另一种背光模拟治具的结构示意图；图6为本实用新型实施例中另一种背光模拟治具的结构示意图。附图标记说明I-底部支撑板；2_底部反射片；3_光源；31-光源高度调节装置；32_水平调节装置；4_光学膜材；41_膜材高度调节装置；5_光学测量仪；6_高度测量尺；7_水平测量尺；8-旋钮。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实 施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。如图I所示，本实用新型实施例提供了一种背光模拟治具，包括底部支撑板1，设置于底部支撑板I上的底部反射片2，底部支撑板I用于支撑底部反射片2及其他部件；设置于底部反射片2上方的多个可移动光源3 ;设置于光源3上方的可移动光学膜材4，光学膜材4用于将多个光源转化为面光源；设置于光学膜材4上方的光学测量仪5，光学测量仪5用于测量光学膜材4的出光均匀度和/或亮度。上述背光模拟治具模拟实际的背光源状态的方法具体为调节光源3与底部反射片2之间的距离，即调节光源3的高度；调节光源3与光源3之间的间距，即调节光源3的水平位置；调节光学膜材4与光源3之间的距离，即调节光学膜材4的高度。上述三个调节步骤之后，点亮光源3，此时通过光学测量仪5对光学膜材4上显示的画面进行评判，即测量光学膜材4的出光均匀度和/或亮度，若光学膜材4的出光均匀度和/或亮度没有达到标准，则重复上述三个步骤对光源3或光学膜材4的位置进行调节，直到光学膜材4的出光均匀度和/或亮度达到标准，则完成了模拟背光源状态。另外，还可以更换不同材料的光学膜材4，并通过光学测量仪5对不同的光学膜材4上显示的画面进行评判，以选择较佳的光学膜材来模拟背光源状态。在完成了模拟背光源状态之后，可以进一步通过测量尺对背光源结构参数进行测量，背光源结构参数具体包括光源3与底部反射片2之间的距离、光源3与光源3之间的间距、光学膜材4与光源3之间的距离以及混光高度，混光高度为光学膜材4与底部反光片2之间的距离。本实用新型实施例中的背光模拟治具，与现有技术通过计算机的光学软件模拟背光源的状态相比，由于通过实际部件来模拟背光源状态，避免了计算机软件模拟出的背光源状态与实际的背光源状态之间的偏差，进而使得测量背光源的结构参数的结果更加准确。进一步地，每个光源3可以为如图2所示的线光源，例如灯管，每个光源3还可以为如图3所示的点光源,例如发光二极管(Light Emitting Diode, LED)。进一步地，如图4所示，上述的背光模拟治具，还包括用于测量反射片I、光源3和光学膜材4三者中任意两者之间距离的高度测量尺6 ;用于测量两个相邻光源3之间距离的水平测量尺7，具体地，若光源3为线光源，由于多个线光源平行设置，只需要一个方向上的水平测量尺7即可测量两个相邻线光源之间的距离，若光源3为点光源，由于多个点光源呈矩阵排列，则需要相互垂直的两个方向上都设置 水平测量尺来测量两个方向上相邻点光源之间的距离。由于可以直接通过高度测量尺6和水平测量尺7来读取背光源的结构参数，无需另外使用测量工具，使得测量更加简单。具体地，高度测量尺6可以为用于支撑光学膜材4的支撑柱，支撑柱上设置有刻度。具体地,如图5和图6所不,每个光源3上设置有用于使光源3移动的光源高度调节装置31和水平调节装置32 ;光学膜材4上设置有用于使光学膜材4垂直移动的膜材高度调节装置41。水平调节装置32和膜材高度调节装置41上分别设置有旋钮8，通过旋钮8可以方便地控制调节装置使光源3水平移动或使光学膜材4上下移动。使得各部件的位置调节更加方便。需要说明的是，图5和图6只示意了线光源的调节装置，点光源同样可以通过调节装置进行移动。背光模拟治具模拟实际的背光源状态的方法以及背光源结构参数的测量方法与上述实施例相同，在此不再赘述。本实用新型实施例中的背光模拟治具，与现有技术通过计算机的光学软件模拟背光源的状态相比，由于通过实际部件来模拟背光源状态，避免了计算机软件模拟出的背光源状态与实际的背光源状态之间的偏差，进而使得测量背光源的结构参数的结果更加准确。以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式
，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
权利要求1.一种背光模拟治具，其特征在于，包括 底部反射片； 设置于所述底部反射片上方的多个可移动光源； 设置于所述光源上方的可移动光学膜材，所述光学膜材用于将所述多个光源转化为面光源； 设置于所述光学膜材上方的光学测量仪，所述光学测量仪用于测量所述光学膜材的出光均匀度和/或亮度。
2.根据权利要求I所述的背光模拟治具，其特征在于， 每个所述光源为线光源或点光源。
3.根据权利要求2所述的背光模拟治具，其特征在于，还包括 用于测量所述反射片、光源和光学膜材三者中任意两者之间距离的高度测量尺； 用于测量所述光源之间距离的水平测量尺。
4.根据权利要求3所述的背光模拟治具，其特征在于， 所述高度测量尺为用于支撑所述光学膜材的支撑柱，所述支撑柱上设置有刻度。
5.根据权利要求4所述的背光模拟治具，其特征在于， 每个所述光源上设置有用于使所述光源移动的光源高度调节装置和水平调节装置； 所述光学膜材上设置有用于使所述光学膜材垂直移动的膜材高度调节装置。
6.根据权利要求I至5中任意一项所述的背光模拟治具，其特征在于，还包括 用于支撑所述反射片的底部支撑板。
专利摘要本实用新型公开了一种背光模拟治具，涉及背光源显示器技术领域，实现通过实际部件来模拟背光源状态，进而使得测量背光源的结构参数的结果更加准确。该背光模拟治具包括底部反射片；设置于所述底部反射片上方的多个可移动光源；设置于所述光源上方的可移动光学膜材，所述光学膜材用于将所述多个光源转化为面光源；设置于所述光学膜材上方的光学测量仪，所述光学测量仪用于测量所述光学膜材的出光均匀度和/或亮度。
文档编号G01J1/00GK202793745SQ201220446000
公开日2013年3月13日 申请日期2012年9月3日 优先权日2012年9月3日
发明者杨阳, 刘同敏 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 合肥京东方显示光源有限公司