专利名称：新型测高量具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种量具，尤其涉及一种测高量具。
背景技术：
目前的测高量具仅仅是量的功能，不能再被测物体上划痕做标记，在实际操作中， 为了方便，工作人员不另找划痕工具，而是直接利用测高量具在被测物体上划痕，尤其是在金属上划痕，这样很容易损坏量具，且影响量具的精确性。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种新型测高量具，它可以在被测物体上划痕，而且结构简单使用方便，为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是新型测高量具，包括底座、立尺和标准压板，所述标准压板一端设有与立尺相配合的加紧片，另一端设有测量头，所述加紧片上设有压紧螺母，所述标准压板的测量头处设有一划痕笔。作为一种优选方案，所述划痕笔固定安装于所述标准压板上且与所述测量头平行。作为另一种优选方案，所述划痕笔滑动安装在所述压板上。由于采用了上述技术方案，在测量头处设有一划痕笔，可以很容易的在被测物体上划痕，而且结构简单，使用也方便。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型实施例一的侧视图；图2是本实用新型实施例二的侧视图；图3是本实用新型实施例一的俯视图；图4是本实用新型实施例二的俯视图；图中1，底座；2，立尺；3，标准压板；31，加紧片；32，压紧螺母；33，测量头；4，划痕笔。
具体实施方式
实施例一如图1和图3共同所示新型测高量具，包括底座1、立尺2和标准压板3，所述标准压板3 —端设有与立尺2相配合的加紧片31，另一端设有测量头33，所述加紧片31上设有压紧螺母32，可以通过压紧螺母32调节加紧片31的位置实现测高功能，所述标准压板3 的测量头33处设有一划痕笔4，所述划痕笔4固定安装于所述标准压板3上且与所述测量头33平行，这样在使用时，需要划痕直接用划痕笔4对准需要划痕的部位划痕，既不会损坏测量头33，也不会影响测量头33的使用，操作方便。实施例二如图2和图4共同所示，新型测高量具，包括底座1、立尺2和标准压板3，所述标准压板3 —端设有与立尺2相配合的加紧片31，另一端设有测量头33，所述加紧片31上设有压紧螺母32，可以通过压紧螺母32调节加紧片31的位置实现测高功能，所述标准压板3 的测量头33处设有一划痕笔4，所述划痕笔4滑动安装在所述压板上。使用时，将划痕笔4 向测量头33方向滑动，直到划痕笔4伸出测量头33，此时可以对被测物体划痕，不用时，划痕笔4向测量头33反方向移动，使它不露在测量头33外面，这样可以防止划痕笔4不小心划伤被测物体。
权利要求1.新型测高量具，包括底座、立尺和标准压板，所述标准压板一端设有与立尺相配合的加紧片，另一端设有测量头，所述加紧片上设有压紧螺母，其特征在于所述标准压板的测量头处设有一划痕笔。
2.如权利要求1所述的新型测高量具，其特征在于所述划痕笔固定安装于所述标准压板上且与所述测量头平行。
3.如权利要求1所述的新型测高量具，其特征在于所述划痕笔滑动安装在所述压板上。
专利摘要本实用新型公开了一种新型测高量具，包括底座、立尺和标准压板，所述标准压板一端设有与立尺相配合的加紧片，另一端设有测量头，所述加紧片上设有压紧螺母，所述标准压板的测量头处设有一划痕笔，这样可以用划痕笔很容易的在被测物体上划痕，而且结构简单，使用也方便。
文档编号G01B5/02GK201974132SQ20102067002
公开日2011年9月14日 申请日期2010年12月20日 优先权日2010年12月20日
发明者付桂兴, 田泽新 申请人:山东科技职业学院
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