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专利名称：电子陶瓷片缺陷自动检测方法及其检测装置的制作方法
技术领域：
本发明属于电子陶瓷片外观检测类设备领域，尤其涉及ー种电子陶瓷片缺陷自动检测方法及其检测装置。
背景技术：
电子陶瓷片外观的主要缺陷是开裂。电子陶瓷片外观缺陷检验机采用的涂红检验原理是将电子陶瓷片用红墨水涂红一面后，用CXD摄像头观察未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片上滲透的纹路，再与标准合格产品对照，以此将开裂缺陷检出并剔除。现有电子陶瓷片外观缺陷检验采用全手工的方式；其原理是工人取一片产品，对着强光裸眼观察，有透光的产品为开裂有缺陷，要剔除掉。全过程全部手工方式完成，生产效率低、占用 人工、易漏检，且强光对人眼损害较大。上述方案缺点明显，手工方式速度太慢，占用人工；人工手动检测常常由于个体差异、个人心理原因造成产品质量不稳定、甚至漏检；此外，操作者双眼长期对光观察，容易产生眼疲劳，或伤害眼睛。无法脱离人工肉眼的方式实现自动化生产是导致这些缺陷的根本原因。

发明内容
针对现有技术的缺点，本发明的目的是提供一种自动化程度高、检测准确、操作简单的电子陶瓷片缺陷自动检测方法；
本发明还提供了ー种电子陶瓷片缺陷自动检测装置。为实现上述目的，本发明的技术方案为一种电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其包括以下步骤
a、将多个电子陶瓷片置于进料単元，并逐片传送至涂红单元；
b、单片的电子陶瓷片被输送至涂红单元后，其下表面被涂红并渗透开；
C、电子陶瓷片被输送至冲洗单元，将多余的红墨水利用水冲洗掉；
d、接着电子陶瓷片再输送至烘干单元，电子陶瓷片上附着的水被热风吹干；
e、电子陶瓷片进入检测单元，通过用CXD摄像头观察未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片上滲透的纹路，再与标准合格产品对照，以此将开裂缺陷检出并在剔除单元进行剔除。进ー步地，为了使重叠的电子陶瓷片能隔开来单独输送，步骤a中，进料单元包括用于输送电子陶瓷片的皮带及设于皮带正上方的隔板，且隔板与皮带之间具有只能容纳ー片电子陶瓷片通过的间隙。除此之外，进料单元也可以包括用于输送电子陶瓷片的滚轴及设于滚轴正上方的隔板，且隔板与滚轴之间具有只能容纳一片电子陶瓷片通过的间隙。进ー步地，步骤e中，有缺陷的电子陶瓷片被辨别出并在剔除段被机械手上的真空吸头吸取后剔除开，完好的电子陶瓷片则在尾端被收集。
步骤b中，涂红单元包括第二滚轴，第二滚轴上涂覆有红墨水，涂红单元还包括墨水桶及用于给第二滚轴表面涂上墨水的墨水盘，墨水桶中的墨水通过管道连接至墨水盘中，管道通过阀门控制。同时，本发明还提供一种电子陶瓷片缺陷自动检测装置，依次包括进料单元、涂红単元、冲洗单元、烘干单元、检测单元及剔除単元，进料单元用于接收多个电子陶瓷片，涂红単元用于将接收的电子陶瓷片下表面涂红，冲洗単元将涂红后的电子陶瓷片上的多余墨水冲洗，烘干单元将电子陶瓷片上的水分进行烘干，检测单元通过CXD摄像头将烘干后的电子陶瓷片未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片上滲透的纹路与标准合格产品进行对照，并在剔除単元剔除缺陷的电子陶瓷片。 与现有技术相比较，本发明的有益效果在干，
本发明通过全自动进、收料，CCD检测，机械手剔除，效率更高，检验效果更优，设备运行 较稳定，本エ序可减少50% 60%的操作人员，极大降低用エ成本及工人的工作強度，解决了招エ难的问题，提高了产品质量。


图Ia为本发明的进料单元及涂红单元的结构示意 图Ib为冲洗单元及烘干单元的结构示意 图Ic为检测単元及剔除単元的结构示意图。
具体实施例方式以下结合实施例及附图对本发明进行详细的描述。如图la、lb、lc所示，本发明公开了ー种电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其包括以下步骤
a、将多个电子陶瓷片I置于进料単元2，并逐片传送至涂红单元3；
b、单片的电子陶瓷片I被输送置涂红单元3后，其下表面被涂红并渗透开；这里的下表面指的是电子陶瓷片I与进料单元2接触的表面；
C、电子陶瓷片I被输送至冲洗单元4，将多余的红墨水利用水冲洗掉；红墨水在电子陶瓷片I的开裂缺陷处渗透开，并留下红色的纹路以便于观察，即达到效果。此后如果还有红墨水附着于电子陶瓷片I上应予以去除。d、接着电子陶瓷片I再输送至烘干单元5，电子陶瓷片I上附着的水被热风吹干；
e、电子陶瓷片I进入检测单元6，通过用CXD摄像头61观察未被涂红的另一面上红墨
水在电子陶瓷片I上滲透的纹路，再与标准合格产品对照，以此将开裂缺陷检出并在剔除单元7进行剔除。本实施例中，步骤a中，进料单元2包括用于输送电子陶瓷片I的皮带21及设于皮带21正上方的隔板22，且隔板22与皮带21之间具有只能容纳一片电子陶瓷片I通过的间隙，此间隙使毎次只有一片电子陶瓷片I向前输送，并且每两片之间错开一定距离。除此之外，步骤a中，进料单元2还可以包括用于输送电子陶瓷片的滚轴及设于滚轴正上方的隔板，且隔板与滚轴之间具有只能容纳一片电子陶瓷片通过的间隙。其中，电子陶瓷片与输送皮带或滚轴接触的表面即为电子陶瓷片下表面。
步骤e中，有缺陷的电子陶瓷片被辨别出并在剔除単元7被机械手上的真空吸头71吸取后剔除开，完好的电子陶瓷片I则在尾端被收集。步骤b中，涂红单元3包括第二滚轴31，第二滚轴31上涂覆有红墨水，当电子陶瓷片I在其上输送过以后，电子陶瓷片I与滚轴31接触的表面即被涂红。具体地，涂红单元3还包括星水摘32及用于给第_■滚轴31表面涂上星水的星水盘33,星水摘32中的星水通过管道34连接至墨水盘33中，管道34通过阀门控制，本实施例中，墨水盘33位于第二滚轴31的下方；第二滚轴31传动时，一方面带动了电子陶瓷片I向前输送，另ー方面蘸到了滚轴31下方墨水盘33中的墨水，并在输送过程中涂红了电子陶瓷片I与之接触的一面。本发明还公开了ー种电子陶瓷片缺陷自动检测装置，依次包括进料单元2、涂红单元3、冲洗单元4、烘干单元5、检测单元6及剔除単元7，进料单元2用于接收多个电子陶瓷片1，涂红单元3用于将接收的电子陶瓷片I下表面涂红，冲洗単元4将涂红后的电子陶瓷
片I上的多余墨水冲洗，烘干单元5将电子陶瓷片I上的水分进行烘干，检测单元6通过CXD摄像头61将烘干后的电子陶瓷片I未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片I上滲透的纹路与标准合格产品进行对照，并在剔除単元7剔除缺陷的电子陶瓷片I。
权利要求
1.一种电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤 a、将多个电子陶瓷片置于进料单元，并逐片传送至涂红单元； b、单片的电子陶瓷片被输送至涂红单元后，其下表面被涂红并渗透开； C、电子陶瓷片被输送至冲洗单元，将多余的红墨水利用水冲洗掉； d、接着电子陶瓷片再输送至烘干单元，电子陶瓷片上附着的水被热风吹干； e、电子陶瓷片进入检测单元，通过用CXD摄像头观察未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片上渗透的纹路，再与标准合格产品对照，以此将开裂缺陷检出并在剔除单元进行剔除。
2.根据权利要求I所述的电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其特征在于，步骤a中，进料单元包括用于输送电子陶瓷片的皮带及设于皮带正上方的隔板，且隔板与皮带之间具有只能容纳一片电子陶瓷片通过的间隙。
3.根据权利要求I所述的电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其特征在于，步骤a中，进料单元包括用于输送电子陶瓷片的滚轴及设于滚轴正上方的隔板，且隔板与滚轴之间具有只能容纳一片电子陶瓷片通过的间隙。
4.根据权利要求I所述的电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其特征在于，步骤e中，有缺陷的电子陶瓷片被辨别出并在剔除单元被机械手上的真空吸头吸取后剔除开，完好的电子陶瓷片则在尾端被收集。
5.根据权利要求I所述的电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其特征在于，步骤b中，涂红单元包括第二滚轴，第二滚轴上涂覆有红墨水。
6.根据权利要求5所述的电子陶瓷片缺陷自动检测方法，其特征在于，涂红单元还包括墨水桶及用于给第二滚轴表面涂上墨水的墨水盘，墨水桶中的墨水通过管道连接至墨水盘中，管道通过阀门控制。
7.一种电子陶瓷片缺陷自动检测装置，其特征在于，依次包括进料单元、涂红单元、冲洗单元、烘干单元、检测单元及剔除单元，进料单元用于接收多个电子陶瓷片，涂红单元用于将接收的电子陶瓷片下表面涂红，冲洗单元将涂红后的电子陶瓷片上的多余墨水冲洗，烘干单元将电子陶瓷片上的水分进行烘干，检测单元通过CCD摄像头将烘干后的电子陶瓷片未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片上渗透的纹路与标准合格产品进行对照，并在剔除单元剔除缺陷的电子陶瓷片。
全文摘要
本发明公开一种电子陶瓷片缺陷自动检测方法及其检测装置，该方法包括以下步骤a、将多个电子陶瓷片置于进料单元，并逐片传送至涂红单元；b、单片的电子陶瓷片被输送至涂红单元后，其下表面被涂红并渗透开；c、电子陶瓷片被输送至冲洗单元，将多余的红墨水利用水冲洗掉；d、接着电子陶瓷片再输送至烘干单元，电子陶瓷片上附着的水被热风吹干；e、电子陶瓷片进入检测单元，通过用CCD摄像头观察未被涂红的另一面上红墨水在电子陶瓷片上渗透的纹路，再与标准合格产品对照，以此将开裂缺陷检出并在剔除单元进行剔除。本发明具备自动化程度高、检测准确、操作简单等优点。
文档编号G01N21/91GK102721704SQ201210212278
公开日2012年10月10日 申请日期2012年6月26日 优先权日2012年6月26日
发明者戈琛, 谢灿生, 项黎华 申请人:潮州三环(集团)股份有限公司