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专利名称：耦合器测试平台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种耦合器测试装置，尤其涉及一种耦合器测试平台。
背景技术：
耦合器在生产装配完毕后，需要对其技术参数进行检验测试；测试时需要将测试仪表和负载通过相应的N型测试插拔件插接到耦合器的连接器上；检测人员在进行检测时需要频繁地进行插接操作，效率低下且容易出现误操作。

实用新型内容针对背景技术中的问题，本实用新型提出了一种耦合器测试平台，其结构为包括 平台、三个N型测试插拔件、测试仪表、负载、挡板和待测耦合器；三个N型测试插拔件和挡板都设置于平台上，三个N型测试插拔件和挡板四者分别位于待测耦合器的上侧、下侧、左侧、右侧；三个N型测试插拔件的位置与待测耦合器上的三个连接器一一对应；其中一个N型测试插拔件与平台固定连接，另外两个N型测试插拔件与平台滑动连接，其滑动方向与N型测试插拔件的插拔方向相同；挡板与平台滑动连接，挡板的滑动方向与相对那侧的N型测试插拔件的插拔方向相同；其中一个N型测试插拔件与负载连接，另外两个N型测试插拔件与测试仪表连接。在前述方案基础上，本实用新型还作了如下改进与平台滑动连接的N型测试插拔件上设置有预紧弹簧，预紧弹簧向N型测试插拔件施加预紧力，使N型测试插拔件紧贴待测耦合器。在前述方案基础上，本实用新型还作了如下改进挡板上设置有复位弹簧，复位弹簧向挡板施加的作用力，使挡板紧贴待测耦合器。本实用新型的有益技术效果是可提高耦合器的检测效率，降低操作人员的劳动强度，降低误操作的可能性。

图I、本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
一种耦合器测试平台，包括平台I、三个N型测试插拔件2、测试仪表3、负载4、挡板5和待测耦合器6 ;三个N型测试插拔件2和挡板5都设置于平台I上，三个N型测试插拔件2和挡板5四者分别位于待测耦合器6的上侧、下侧、左侧、右侧；三个N型测试插拔件2的位置与待测耦合器6上的三个连接器一一对应；其中一个N型测试插拔件2与平台I固定连接，另外两个N型测试插拔件2与平台I滑动连接，其滑动方向与N型测试插拔件2的插拔方向相同；挡板5与平台I滑动连接，挡板5的滑动方向与相对那侧的N型测试插拔件2的插拔方向相同(B卩若挡板5位于待测耦合器6下侧，则挡板5的滑动方向与上侧的N型测试插拔件2的插拔方向相同，若挡板5位于待测耦合器6左侧，则挡板5的滑动方向与右侧的N型测试插拔件2的插拔方向相同，当挡板5位于待测稱合器6上侧或右侧时,与前述关系类似)；其中一个N型测试插拔件2与负载4连接，另外两个N型测试插拔件2与测试仪表3连接。采用本实用新型后，待测耦合器6可十分方便地与N型测试插拔件2进行插接，降低了检验员的劳动强度，降低了误操作的可能；为了使N型测试插拔件2与待测耦合器6插接得更加紧密，还可采用如下改进方案与平台I滑动连接的N型测试插拔件2上设置有预紧弹簧，预紧弹簧向N型测试插拔件2施加预紧力，使N型测试插拔件2紧贴待测耦合器6。更进一步地，还可在挡板5上设置复位弹簧，复位弹簧向挡板5施加的作用力，使挡板5紧贴待测耦合器6。
权利要求1.一种耦合器测试平台，其特征在于包括平台(I)、三个N型测试插拔件(2)、测试仪表(3)、负载(4)、挡板(5)和待测稱合器(6);三个N型测试插拔件(2)和挡板(5)都设置于平台(I)上，三个N型测试插拔件(2)和挡板(5)四者分别位于待测耦合器(6)的上侧、下侦U、左侧、右侧；三个N型测试插拔件(2)的位置与待测耦合器(6)上的三个连接器一一对应；其中一个N型测试插拔件(2)与平台(I)固定连接，另外两个N型测试插拔件(2)与平台(I)滑动连接，其滑动方向与N型测试插拔件(2)的插拔方向相同；挡板(5)与平台(I)滑动连接，挡板(5)的滑动方向与相对那侧的N型测试插拔件(2)的插拔方向相同；其中一个N型测试插拔件(2)与负载(4)连接，另外两个N型测试插拔件(2)与测试仪表(3)连接。
2.根据权利要求I所述的耦合器测试平台，其特征在于与平台(I)滑动连接的N型测试插拔件(2)上设置有预紧弹簧，预紧弹簧向N型测试插拔件(2)施加预紧力，使N型测试插拔件(2)紧贴待测耦合器(6)。
3.根据权利要求I所述的耦合器测试平台，其特征在于挡板(5)上设置有复位弹簧，复位弹簧向挡板(5 )施加的作用力，使挡板(5 )紧贴待测耦合器(6 )。
专利摘要本实用新型公开了一种耦合器测试平台，包括平台、三个N型测试插拔件、测试仪表、负载、挡板和待测耦合器；三个N型测试插拔件和挡板都设置于平台上，三个N型测试插拔件和挡板四者分别位于待测耦合器的上侧、下侧、左侧、右侧；三个N型测试插拔件的位置与待测耦合器上的三个连接器一一对应；其中一个N型测试插拔件与平台固定连接，另外两个N型测试插拔件与平台滑动连接，其滑动方向与N型测试插拔件的插拔方向相同；挡板与平台滑动连接，挡板的滑动方向与相对那侧的N型测试插拔件的插拔方向相同；其中一个N型测试插拔件与负载连接，另外两个N型测试插拔件与测试仪表连接。优点可提高耦合器的检测效率，降低操作人员的劳动强度，降低误操作的可能性。
文档编号G01R31/00GK202548242SQ20122017298
公开日2012年11月21日 申请日期2012年4月23日 优先权日2012年4月23日
发明者彭苏清, 胡久林 申请人:重庆贸海科技有限公司