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一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法
【专利摘要】本发明公开了一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，该方法通过将黑索金粗品颗粒精制，确定取样长度和评定长度，测量待测样品的表面粗糙度，计算轮廓算术平均偏差平均值与轮廓算术平均偏差示值误差，最后报告与表示。本发明采用光学法进行测试，实现了无损、非接触测试，量化黑索金颗粒表面粗糙度值，以此分析和评价高品质黑索金。
【专利说明】一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法
【技术领域】
[0001]本发明属于炸药领域，涉及黑索金，具体涉及一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法。
【背景技术】
[0002]对于表面粗糙度的检测和评定，最早人们是用标准样件或样块，通过经验(眼观或手摸)对表面粗糙度做出定性检测和评定。1929年，德国施马尔茨首先对表面微观不平整度的深度进行了测量。1936年美国艾尔特成功研制出第一台车间用的表面粗糙度轮廓仪。1940年英国泰勒-浩博森公司成功研制出表面粗糙度测量仪。之后，各国相继研制出多种测量表面粗糙度的仪器。目前产品化的表面粗糙度测量仪器中，一般可以划分为接触式与非接触式两种。其中接触式以触针轮廓仪为代表，非接触式测量以光学测量占主导。
[0003]激光共聚焦显微镜是今年来发展起来的一种新型显微镜，与普通光学显微镜相比具有更高的分辨率和放大倍数，可以对待测样品进行分层扫描，实现样品的三维重建和测量分析。该术已在食品、生物医药等方面得到了广泛的应用，利用该技术研究了形态学、分子细胞生物学、神经学、药理学、遗传学、食品组织形态等。
[0004]单质炸药晶体微表面形貌影响其在火炸药中的加工性能、微观力学性能，进而影响装药安全性。同时，单质炸药晶体微表面“锯齿”形状影响其与高分子材料的润湿性能和微界面作用，进而影响工艺流变性能。粗糙的微表面也是“热点”产生的原因之一。因此有效表征单质炸药晶体微表面为高品质单质炸药的评定、单质炸药晶体的包覆提供技术支持。
[0005]迄今现有技术中未见单质炸药微表面粗糙度测试方法，特别是共聚焦显微镜用于单质炸药表面粗糙度测量的报道。

【发明内容】

[0006]针对现有技术存在的缺陷与不足，本发明的目的是提供一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，以解决现有分析方法无法解决的黑索金黑索金表面粗糙度的表征问题。
[0007]为了实现上述技术任务，本发明采用如下技术方案予以实现:
[0008]一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，该方法包括以下步骤:
[0009]步骤一，将黑索金粗品颗粒精制，具体的精制过程如下所述:
[0010]25°C时，在搅拌状态下，将黑索金均分五次加入丙酮中，黑索金与丙酮之间的质量比为40:100，待黑索金完全溶解后，降温至-10°C，有晶体析出，过滤，干燥，得到精制后的黑索金颗粒；
[0011]步骤二,确定取样长度Lw=0.1mm,评定长度LiTse=0.3mm ;
[0012]步骤三，测量待测样品的表面粗糙度:
[0013]使用激光共聚焦显微镜测量每一个待测样品的表面粗糙度，进行测试时，首先采用LED冷光源白光进行照射，镜头放大倍数为5倍，调整视场后换至50倍放大镜头，激光共聚焦显微镜中的激光光源采用激光能量为I毫瓦，激光波长为405nm的半导体激光光源，三维图采集时选用1000层切片模式，图像分辨率选用4096X4096 ;依据如下公式计算得出待测样品的轮廓算术平均偏差:
【权利要求】
1.一种黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤: 步骤一，将黑索金粗品颗粒精制，具体的精制过程如下所述: 25°C时，在搅拌状态下，将黑索金均分五次加入丙酮中，黑索金与丙酮之间的质量比为40:100，待黑索金完全溶解后，降温至-10°C，有晶体析出，过滤，干燥，得到精制后的黑索金颗粒； 步骤二，确定取样长度Ligw=0.1mm,评定长度LiTse=0.3mm ； 步骤三，测量待测样品的表面粗糙度: 使用激光共聚焦显微镜测量每一个待测样品的表面粗糙度，进行测试时，首先采用LED冷光源白光进行照射，镜头放大倍数为5倍，调整视场后换至50倍放大镜头，激光共聚焦显微镜中的激光光源采用激光能量为I毫瓦，激光波长为405nm的半导体激光光源，三维图采集时选用1000层切片模式，图像分辨率选用4096X4096 ;依据如下公式计算得出待测样品的轮廓算术平均偏差:
2.如权利要求1所述的黑索金颗粒表面粗糙度检测方法，其特征在于，步骤一所述的精制后的黑索金颗粒的粒度范围是(0.5~5) X10_3m。
【文档编号】G01B11/30GK103837101SQ201410012039
【公开日】2014年6月4日 申请日期:2014年1月10日 优先权日:2014年1月10日
【发明者】张皋, 蒋忠亮, 陈智群, 周文静, 徐敏, 王克勇, 高朗华, 苏鹏飞, 任黎 申请人:西安近代化学研究所