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一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺，主要由左尺框盖板、测量显示组件、尺身、左陶瓷件、右陶瓷件、左尺框、右尺框组成。在制造时，尺身、右尺框、左尺框均采用铝合金材料，并采用整体化学镀镍的工艺方法，使表面硬度达到HV0.25/20450～470；右陶瓷件、左陶瓷件采用耐磨材料HV1000～1500的氧化锆陶瓷，使卡尺测量面更具有耐磨性。本实用新型适合于大量程卡尺，尤其是量程超过2000mm或更大，具有重量轻，操作方便，耐磨性高，使用寿命长，不需要频繁调整和维修，能测量磁性工件等优点，广泛用于机械加工中的精密测量。
【专利说明】一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺
所属【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测量工具，特别是一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺。
【背景技术】
[0002]现有的大量程卡尺(量程> 1000mm)所使用的材料基本上都是碳钢或不锈钢，密度大，卡尺重，不方便个人操作使用，尤其是量程超过2000mm的，基本上都需要两个人操作。另外，由于采用材料是钢质的，在测量过程中容易被磁化，导致测量面容易吸附铁屑、粉尘等异物，直接影响测量结果，加速量面的磨损，影响卡尺的使用寿命，而且由于钢材具有很好的导磁性，现有的卡尺根本无法测量磁性工件，钢质材料的大量程卡尺也不易于维修，维修成本高。现有技术中，除了《一种长使用寿命游标卡尺及其制造方法》(专利申请号:201010197061.3)和《一种带陶瓷量面卡尺的无切削装配工艺》(专利申请号:200710023291.6)公开了测量面用耐磨材料镶贴制成的卡尺外，未见有上述一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺。

【发明内容】

[0003]针对上述情况，本实用新型公开一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺，这种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺比目前的同规格卡尺重量要减少50%以上，操作方便，测量面具有高耐磨性，使用寿命长，不需要频繁调整和维修，并能测量磁性工件，各种技术指标和要求均符合量具使用要求。
[0004]为达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案是:一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺主要由左尺框盖板、左尺框锁紧螺钉、测量显示组件、右尺框锁紧螺钉、尺身、左陶瓷件、右陶瓷件、左尺框、右尺框组成。左尺框盖板固定安装在左尺框上，左尺框与尺身滑动连接，通过左尺框锁紧螺钉调整并可以在尺身上滑动或固定，右尺框与尺身滑动连接，通过右尺框锁紧螺钉调整并可以在尺身上滑动或固定，测量显示组件固定安装在右尺框上，左陶瓷件、右陶瓷件通过一种专用的粘接剂分别粘接到左尺框和右尺框的测量面部位，作为卡尺测量面；左尺框、右尺框、尺身均采用铝合金作为材料，通过整体化学镀镍，获得表面硬度HVa25/2(l450?470，达到量具整体刚性要求；左陶瓷件、右陶瓷件采用硬度HV1000?1500的氧化锆陶瓷材料，从而实现卡尺测量面硬度符合量具测量面使用要求。
[0005]采用上述方案后，一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺具有重量轻，操作方便，耐磨性高，使用寿命长，不需要频繁调整和维修，能测量磁性工件等优点。广泛用于机械加工中的精密测量。
【专利附图】

【附图说明】
[0006]图1为一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺的结构简图。
[0007]图中:1、左尺框盖板；2、左尺框锁紧螺钉；3、测量显示组件；4、右尺框锁紧螺钉； 5、尺身；6、右尺框；7、右陶瓷件；8、左陶瓷件；9、左尺框。
具体实施方案
[0008]从上述说明和结构示意图可以看出:
[0009]左尺框盖板I固定安装在左尺框9上，左尺框锁紧螺钉2与左尺框9侧面螺纹连接，测量显示组件3固定安装在右尺框6上，右尺框锁紧螺钉4与右尺框6侧面螺纹连接，右尺框6与尺身5滑动连接，右陶瓷件7粘接在右尺框6的测量面部位，左陶瓷件8粘接在左尺框9的测量面部位，左尺框9与尺身5滑动连接。
[0010]在制造时，尺身5、右尺框6、左尺框9均采用铝合金材料，并采用整体化学镀镍的工艺方法，使表面硬度达到HVQ.25/2Q450?470 ;右陶瓷件7、左陶瓷件8采用硬度HV1000?1500的氧化锆陶瓷材料，用粘接剂分别粘接到右尺框6和左尺框9的测量面部位，作为卡尺
测量面。
【权利要求】
1.一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺主要由左尺框盖板、测量显示组件、尺身、左陶瓷件、右陶瓷件、左尺框、右尺框组成，其特征是:左尺框盖板(I)固定安装在左尺框(9)上，左尺框锁紧螺钉(2)与左尺框(9)侧面螺纹连接，测量显示组件(3)固定安装在右尺框(6)上，右尺框锁紧螺钉(4)与右尺框(6)侧面螺纹连接，右尺框(6)与尺身(5)滑动连接，右陶瓷件(7)粘接在右尺框(6)的测量面部位，左陶瓷件(8)粘接在左尺框(9)的测量面部位，左尺框(9)与尺身(5)滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺，其特征是:尺身(5)、右尺框(6)、左尺框(9)采用铝合金材料，并采用整体化学镀镍的工艺方法，使表面硬度达到HVa25/2(l450 ~470 ;右陶瓷件(7)、左陶瓷件⑶采用硬度HV1000~1500的氧化锆陶瓷材料。
【文档编号】G01B5/00GK203642831SQ201320851241
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2013年12月20日 优先权日:2013年12月20日
【发明者】闫列雪, 李央, 唐张兵, 黄桂云 申请人:桂林广陆数字测控股份有限公司